[发明专利]一种可溯源至SI的太阳总辐照度标定装置在审

专利信息
申请号: 201911336190.3 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN111044151A 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 衣小龙;方伟;费义艳;叶新;王玉鹏 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J1/00;G01J1/02
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 曹卫良
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种可溯源至SI的太阳总辐照度标定装置,包括辐照度定标光源、低温绝对辐照度基准源、太阳绝对辐射计及位移驱动装置;低温绝对辐照度基准源和太阳绝对辐射计收容于真空共光路结构内;辐照度定标光源用于形成平行光束的激光;太阳绝对辐射计用于通过真空共光路结构接收并测量辐照度定标光源;位移驱动装置用于驱动真空共光路结构移动使低温绝对辐照度基准源接收辐照度定标光源;低温绝对辐照度基准源包括主光阑及低温绝对辐射接收器;主光阑接收辐照度定标光源并将辐照度定标光源转换为辐照度光源,低温绝对辐射接收器辐照度光源并通过电功率来标定进入低温绝对辐射接收器的辐照度光源。本发明可以提高太阳总辐照度的测量精度。
搜索关键词: 一种 溯源 si 太阳 辐照 标定 装置
【主权项】:
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