[发明专利]标准单元库的测试方法有效
| 申请号： | 201911334496.5 | 申请日： | 2019-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN110988657B | 公开（公告）日： | 2021-12-17 |
| 发明（设计）人： | 尤美琳;高唯欢;胡晓明 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 201315*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种标准单元库的测试方法，在所述的标准单元库的测试方法中，通过对所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元输入测试信号，以得到组合逻辑单元输出信号和时序逻辑单元输出信号；分别选取所述组合逻辑单元输出信号和所述时序逻辑单元输出信号中的数据；以及将选取的所述组合逻辑单元输出信号中的数据与一组合逻辑测试数据比较，以及将选取的所述时序逻辑单元输出信号中的数据与一时序逻辑测试数据比较，以测试所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元的功能是否正常。由此，通过设置所述测试信号测试所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元的功能，从而减少测试向量，提高工作的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 标准 单元 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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