[发明专利]一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法有效
| 申请号： | 201911066635.0 | 申请日： | 2019-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN110596231B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 梁帮宏;苏冬萍;罗婷;李顺涛;张劲松;陈云明;李兵 | 申请（专利权）人： | 中国核动力研究设计院 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 林菲菲 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法，依次包括：第一步、发射剂配制：配制测量所需发射剂，发射剂为碳纳米管混合悬浊液；第二步、样品加载：将样品和发射剂加载在铼带上并烘干，以单带方式安装插件；第三步、样品测量：热电离质谱仪设置为正离子模式，待检测离子为Hf |
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| 搜索关键词： | 一种 电离 质谱仪 测量 同位素 方法 | ||
【主权项】：
1.一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：/n步骤S1，发射剂配制：配制测量所需发射剂，发射剂为碳纳米管混合悬浊液；/n步骤S2，样品加载：将样品和发射剂加载在铼带上并烘干，以单带方式安装插件；/n步骤S3，样品测量：热电离质谱仪设置为正离子模式，待检测离子为Hf
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