[发明专利]基于高光谱的荧光粉发光特性透射式测试装置和方法有效
| 申请号： | 201910975428.0 | 申请日： | 2019-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN110658169B | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 郭自泉;刘必靖;杨宸;林苡;吕毅军;高玉琳;陈忠 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01J3/443 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 张素斌 |
| 地址： | 361005 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 基于高光谱的荧光粉发光特性透射式测试装置和方法，涉及发光器件领域，包括LED激发光源、荧光粉片、三维控制台、恒流源、控温模块、显微镜、高光谱仪和计算机；LED激发光源设于三维控制台上；恒流源连接LED激发光源；控温模块设于三维控制台上；荧光粉片置于LED激发光源的正上方；显微镜设于荧光粉片的上方；高光谱仪设于显微镜的上方，高光谱仪用于收集和处理显微镜透过的光并得到高光谱数据；计算机连接高光谱仪，计算机用于将接收的高光谱数据进行计算得到二维几何空间的荧光粉光学参数。可精确得到荧光粉像素级别的发光图像以及获得相应像素点上的光谱数据，从而精确地得到荧光粉微米尺度空间上发光特性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光谱 荧光粉 发光 特性 透射 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.基于高光谱的荧光粉发光特性透射式测试装置，其特征在于：包括LED激发光源、荧光粉片、三维控制台、恒流源、控温模块、显微镜、高光谱仪和计算机；/n所述LED激发光源设于三维控制台上，三维控制台用于对LED激发光源的位置进行调节；/n所述恒流源连接LED激发光源，恒流源用于提供恒定电流驱动LED激发光源；/n所述控温模块设于三维控制台上，且位于LED激发光源的底部，控温模块用于对LED激发光源进行控温；/n所述荧光粉片置于LED激发光源的正上方；/n所述显微镜设于荧光粉片的上方，显微镜用于透过荧光粉片的发射光和LED激发光源的激发光；/n所述高光谱仪设于显微镜的上方，高光谱仪用于收集和处理显微镜透过的光并得到高光谱数据；/n所述计算机连接高光谱仪，计算机用于将接收的高光谱数据进行计算得到二维几何空间的荧光粉光学参数。/n
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