[发明专利]基于高光谱的荧光粉发光特性透射式测试装置和方法

权利要求书

1.基于高光谱的荧光粉发光特性透射式测试方法，其特征在于包括以下步骤：

1)将LED激发光源放置在控温模块上，设置控温模块的温度为T，并将透明基板放置在LED激发光源的正上方，将LED激发光源连接上恒流源，设置驱动电流为I；

2)移动三维控制台，调整透明基板在显微镜的正下方，LED激发光源发出的光透过透明基板，经过显微镜进入高光谱仪，高光谱仪连计算机采集并处理得到相应的高光谱数据，测量得到LED激发光二维光子数分布B_m×n；

3)将透明基板替换成荧光粉片，设置与步骤1)相同的电流和温度条件；

4)移动三维控制台使得荧光粉片的位置与步骤2)相同，重复步骤2)的过程，测量得到LED激发光二维光子数分布BB_m×n和荧光粉发射光光子数分布Y_m×n；

5)计算出荧光粉片的二维几何空间的荧光粉转换效率和荧光粉量子效率分布；

在步骤2)中，通过积分计算得到每个像素不同波长的LED激发光光子数总和B，相应的二维矩阵记为B_m×n：

步骤4)中，通过积分计算得到每个像素不同波长的LED激发光光子数总和BB和荧光粉发射光光子数总和Y，对应二维矩阵分别为BB_m×n和Y_m×n：

其中，m,n代表像素的二维空间位置坐标；

在步骤5)中，计算的荧光粉转换效率和荧光粉量子效率定义为：

其中，(λ₁,λ₂)为LED激发光的波段，(λ₃,λ₄)为荧光粉发射光的波段。