[发明专利]一种超分辨显微分析磁光镊装置在审
| 申请号： | 201910927145.9 | 申请日： | 2019-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN110596003A | 公开（公告）日： | 2019-12-20 |
| 发明（设计）人： | 罗华;程雍;高斌 | 申请（专利权）人： | 武汉铢寸科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超分辨显微分析磁光镊装置，包括，第一光镊、第二光镊、磁场、聚苯乙烯微珠及铁磁性微珠；所述聚苯乙烯微珠被所述第二光镊捕获，所述铁磁性微珠被所述第一光镊捕获；所述铁磁性微珠被所述磁场操控形成磁镊。磁场和光场都可以分别进行强度和位置控制，均非机械运动，可以同时捕获和操控同一个微珠。磁镊产生的磁场由电流线圈产生，非工作时对其他物件无磁化影响。磁镊的操作由改变输入电流大小和方向实现，无机械运动，磁镊的操作精度和稳定性得到极大提高。光镊由两束或多束激光产生，使光镊控制更加精密。 | ||
| 搜索关键词： | 光镊 磁镊 微珠 铁磁性 磁场 捕获 聚苯乙烯微珠 机械运动 磁化 非机械运动 磁场操控 电流线圈 多束激光 输入电流 位置控制 显微分析 超分辨 物件 操控 磁光 光场 精密 | ||
【主权项】：
1.一种超分辨显微分析磁光镊装置，其特征在于，包括，第一光镊、第二光镊、磁场、聚苯乙烯微珠及铁磁性微珠；所述聚苯乙烯微珠被所述第二光镊捕获，所述铁磁性微珠被所述第一光镊捕获；所述铁磁性微珠被所述磁场操控形成磁镊。/n
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