[发明专利]一种几何量测量校准的标准装置在审
申请号: | 201910739676.5 | 申请日: | 2019-08-12 |
公开(公告)号: | CN112393696A | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 刘娟;黄红平;王云祥;吴建平 | 申请(专利权)人: | 苏州市计量测试院 |
主分类号: | G01B15/00 | 分类号: | G01B15/00 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;贾允 |
地址: | 215128 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及尺寸测量技术领域,具体是一种几何量测量校准的标准装置,包括:底座和至少一个标准球,所述底座包括第一固定板、第二固定板、第三固定板和第四固定板,所述第一固定板、所述第二固定板、所述第三固定板和所述第四固定板构成梯形结构,所述梯形结构内部设有中空空间;所述第一固定板、所述第二固定板和所述第三固定板均设有至少一个凸台,所述凸台与所述标准球一一对应,每个所述凸台上设有盲孔,所述标准球设置在所述盲孔内;本发明能够采用中空梯形结构,使第一固定板第二固定板、第三固定板形成空间上的错落和高度差,提高成像效果和校准装置的校准的稳定性,统计不同尺寸几何量测量误差,适用性广泛。 | ||
搜索关键词: | 一种 几何 测量 校准 标准 装置 | ||
【主权项】:
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