[发明专利]一种闪存颗粒长期可靠性的抽检方法及其装置在审
| 申请号： | 201910671906.9 | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN110428863A | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 沈荣娟;邹一凡;张健 | 申请（专利权）人： | 深圳忆联信息系统有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04;G11C29/50 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 巫苑明 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种闪存颗粒长期可靠性的抽检方法及其装置；其中，方法，包括：S1，对闪存颗粒上电，识别坏块及标识非坏块；S2，对所述标识非坏块进行选取若干个Block；S3，判断所述Block是否为坏块；S4，对选取的Block进行老化处理，并标记成坏块；S5，对选取的Block进行连续擦写读；S6，判断连续擦写读后的Block是否终止老化；S7，判断老化轮数是否等于预设值的整数倍；S8，主机发送命令获取老化信息；S9，判断老化轮数是否等于设定值；S10，结束操作。本发明可有效提升闪存颗粒长期可靠性测试效率，节省成本。 | ||
| 搜索关键词： | 坏块 闪存 长期可靠性 老化 擦写 轮数 主机发送命令 测试效率 老化处理 老化信息 整数倍 上电 预设 | ||
【主权项】：
1.一种闪存颗粒长期可靠性的抽检方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，对闪存颗粒上电，识别坏块及标识非坏块；S2，对所述标识非坏块进行选取若干个Block；S3，判断所述Block是否为坏块；若是，则结束操作；若否，则进入S4；S4，对选取的Block进行老化处理，并标记成坏块；S5，对选取的Block进行连续擦写读；S6，判断连续擦写读后的Block是否终止老化；若是，则结束操作；若否，则进入S7；S7，判断老化轮数是否等于预设值的整数倍；若是，进入S8；若否，则返回S4；S8，获取老化信息；S9，判断老化轮数是否等于设定值；若是，则结束操作；若否，则返回S4。
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