[发明专利]一种P型晶体硅电池的制备方法有效

专利信息
申请号: 201910671194.0 申请日: 2019-07-24
公开(公告)号: CN110518089B 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 杨智;魏青竹;倪志春 申请(专利权)人: 苏州腾晖光伏技术有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/068
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 李萍
地址: 215542 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种P型晶体硅电池的制备方法,解决了P型晶体硅背面载流子选择性结构电池的漏电问题。其包括如下步骤:B、在P型晶体硅片的背面生长氧化物薄层;C、在氧化物薄层上沉积多晶硅层,并掺杂III族元素;D、在P型晶体硅片上的III族元素掺杂面上单面沉积氧化物膜;E、将P型晶体硅片上的III族元素掺杂面向上,以漂浮的方式放入第一溶液中处理;F、对P型晶体硅片的非掺杂面单面进行制绒;G、在P型晶体硅片的正面进行磷掺杂;H、将P型晶体硅片的磷掺杂面向上,以漂浮的方式放入第二溶液中处理;I、将经第二溶液处理后的P型晶体硅片放入碱性溶液中处理;J、将经碱性溶液处理后的P型晶体硅片放入HF溶液中。
搜索关键词: 一种 晶体 电池 制备 方法
【主权项】:
1.一种P型晶体硅电池的制备方法,其特征在于,依次包括如下步骤:/nA、对制绒后的P型晶体硅片进行背面刻蚀或抛光,保留正面的绒面;/nB、在P型晶体硅片的背面生长氧化物薄层;/nC、在氧化物薄层上沉积多晶硅层,并掺杂III族元素;/nD、在P型晶体硅片上的III族元素掺杂面上单面沉积氧化物膜;/nE、将P型晶体硅片上的III族元素掺杂面向上,以漂浮的方式放入第一溶液中处理,所述第一溶液包括HF、HNO3、H2SO4中的至少一种;/nF、对P型晶体硅片的非掺杂面单面进行制绒;/nG、在P型晶体硅片的正面进行磷掺杂;/nH、将P型晶体硅片的磷掺杂面向上,以漂浮的方式放入第二溶液中处理,所述第二溶液包括HF、HNO3、H2SO4中的至少一种;/nI、将经第二溶液处理后的P型晶体硅片放入碱性溶液中处理;/nJ、将经碱性溶液处理后的P型晶体硅片放入HF溶液中去除表面上的磷硅玻璃和III族硅玻璃;/nK、将P型晶体硅片的表面氧化;/nL、在P型晶体硅片上的III族扩散面沉积钝化层和减反射层,在磷扩散面沉积减反射层;/nM、进行金属化工艺形成正面金属电极和背面金属电极。/n
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