[发明专利]用于对样本进行热分析的测量装置和方法在审
| 申请号： | 201910450779.X | 申请日： | 2019-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN110568007A | 公开（公告）日： | 2019-12-13 |
| 发明（设计）人： | A·辛德勒 | 申请（专利权）人： | 耐驰-仪器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 11326 北京市路盛律师事务所 | 代理人： | 张瑾;刘世杰 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于对样本(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使样本(P)放置在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险，根据本发明的设置成，测量装置还具有外坩埚(30‑1)，外坩埚用于使坩埚(10)支承在外坩埚(30‑1)中，其中，坩埚(10)由坩埚材料构成并且外坩埚(30‑1)由与坩埚材料不同的外坩埚材料构成。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对样本(P)进行热分析的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 坩埚 样本 测量装置 坩埚材料 传感器 热分析 物理反应 支承 测量 损害 | ||
【主权项】：
1.用于对样本进行热分析的测量装置，其具有-坩埚(10)，所述坩埚用于使样本(P)放置在所述坩埚(10)中，/n-传感器(20)，所述传感器用于测量布置在所述传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度，/n其特征在于，所述测量装置还具有外坩埚(30-1)，所述外坩埚用于使所述坩埚(10)支承在所述外坩埚(30-1)中，其中，所述坩埚(10)由坩埚材料构成并且所述外坩埚(30-1)由与所述坩埚材料不同的外坩埚材料构成。/n
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