[发明专利]诊断电气开关单元磨损的方法和设备及包括其的电气单元在审
| 申请号： | 201910404176.6 | 申请日： | 2019-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN110556254A | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | R.奥尔班;J.德福奇 | 申请（专利权）人： | 施耐德电器工业公司 |
| 主分类号： | H01H1/00 | 分类号： | H01H1/00;H01H47/00 |
| 代理公司： | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邸万奎 |
| 地址： | 法国吕埃*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 一种用于诊断电气开关单元的磨损状态的方法，该方法包括用于监控电气单元的阶段(15)。该监控阶段使用：‑先前加载的并且表示电气单元的类型的学习数据，和‑与待监控的所述单元相对应并且在初始阶段期间被存储在存储器中的初始化数据(CRP)。该监控阶段(15)包括：‑在所述电气单元断开时进行测量(40)并获取测量曲线(CM)，‑根据测量曲线的值、初始化数据的值和学习数据(CRU)的值，确定(41)来自所述测量曲线的对温度不敏感的局部描述符的值，‑根据所述位置值确定(43‑45)全局状态等级。一种实施该方法的设备和电气单元。 | ||
| 搜索关键词： | 电气单元 测量 初始化数据 监控阶段 学习数据 电气开关单元 局部描述符 温度不敏感 存储器 磨损状态 全局状态 监控 加载 断开 存储 诊断 | ||
【主权项】：
1.一种用于诊断电气开关单元的磨损状态的方法，该方法包括用于监控所述电气单元的阶段(15)，/n其特征在于：/n-所述监控阶段使用：/n-先前加载的并且与表示所述电气单元的产品类型相对应的学习数据(CD1，CD2)，和/n-与待监控的所述单元相对应的并且在初始化阶段(14)期间被存储在存储器中的初始化数据(CRP)，并且/n-所述监控阶段(15)包括：/n-在所述电气单元断开时进行测量(40)并获取测量曲线(CM)，/n-根据所述测量曲线(CM)的值、所存储的初始化数据(CRP)的值和第一次加载的学习数据的值来确定(41)来自所述测量曲线(CM)的局部描述符(DL1，DL2)的值，所述局部描述符(DL1，DL2)中的至少一个是对温度差不敏感并且取决于所述测量曲线(CM)的关注点(20，21)的描述符，/n-确定测量曲线(CM)的对温度不敏感的局部描述符(DL1，DL2)的值相对于第二学习数据(CD1，CD2)的位置，以及/n-根据测量曲线(CM)的局部描述符(DL1，DL2)的值相对于所述第二学习数据(CD1，CD2)的所述位置值来确定(43-45)的全局状态等级。/n
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