[发明专利]相控阵天线测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201910354539.X | 申请日： | 2019-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN111953429B | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 漆一宏;于伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市通用测试系统有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29;H04B17/391;G01R29/10;H04B7/0404 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 518102 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种相控阵天线测试系统及测试方法，其中，测试系统包括：天线阵列，天线阵列包括至少两个测试天线和隔离材料，用于对待测试的相控阵天线进行预设距离内的近场测试；微波暗室，天线阵列与相控阵天线均设置在微波暗室内；仪表，仪表包括信道模拟器和多路信号收发器，仪表连接天线阵列和相控阵天线，用于配合天线阵列对相控阵天线进行测试。根据本发明实施例的测试系统，可对相控阵天线无线性能进行整体评估，尤其是相控阵天线动态波束赋形工作模式下整体性能的测试，有效提高测试的适用性和实用性，有效满足测试需求。 | ||
| 搜索关键词： | 相控阵 天线 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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