[发明专利]高频电磁屏蔽效能测量系统、测量方法及装置有效
申请号: | 201910242921.1 | 申请日: | 2019-03-28 |
公开(公告)号: | CN109884406B | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 王磊;方文啸;邵伟恒;贺致远;尧彬;恩云飞;黄云;王铁羊;骆成阳;刘恒洲 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01R31/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 陈金普;曾旻辉 |
地址: | 511300 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种高频电磁屏蔽效能测量系统、测量方法及装置,测量系统包括电磁波分析设备、微带线以及千兆赫兹横电磁波小室。千兆赫兹横电磁波小室的输入端连接电磁波分析设备的信号输出端。微带线设置在千兆赫兹横电磁波小室的输出窗内接收横电磁波。电磁波分析设备的第一输入端连接微带线的第一端,第二输入端连接微带线的第二端。电磁波分析设备用于在设置待测屏蔽材料前,根据微带线的第一端的输出信号确定千兆赫兹横电磁波小室与微带线之间的第一耦合传输系数,根据微带线的第二端的输出信号确定第二耦合传输系数;在设置待测屏蔽材料后,确定千兆赫兹横电磁波小室与微带线之间的第三耦合传输系数以及第四耦合传输系数。 | ||
搜索关键词: | 高频 电磁 屏蔽 效能 测量 系统 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种高频电磁屏蔽效能测量系统,其特征在于,包括:电磁波分析设备、微带线以及千兆赫兹横电磁波小室;所述千兆赫兹横电磁波小室的输入端连接所述电磁波分析设备的信号输出端,用于根据所述信号输出端的控制信号产生横电磁波;所述微带线设置在所述千兆赫兹横电磁波小室的输出窗内,用于接收所述横电磁波;所述电磁波分析设备的第一输入端连接所述微带线的第一端,所述电磁波分析设备的第二输入端连接所述微带线的第二端;所述电磁波分析设备,用于在设置待测屏蔽材料前,根据所述微带线的第一端的输出信号确定所述千兆赫兹横电磁波小室与所述微带线之间的第一耦合传输系数,并根据所述微带线的第二端的输出信号确定所述千兆赫兹横电磁波小室与所述微带线之间的第二耦合传输系数;以及在设置所述待测屏蔽材料后,根据所述微带线的第一端的输出信号确定所述千兆赫兹横电磁波小室与所述微带线之间的第三耦合传输系数,根据所述微带线的第二端的输出信号确定所述千兆赫兹横电磁波小室与所述微带线之间的第四耦合传输系数。
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