[发明专利]一种颗粒系粒径分布的测量方法在审

专利信息
申请号: 201910162213.7 申请日: 2019-03-04
公开(公告)号: CN109856019A 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 张彪;王晨;姚鸿熙;许传龙 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 211100 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种颗粒系粒径分布的测量方法,包括以下步骤,利用近场散射技术,建立散射光强度分布与颗粒群粒径的积分方程关系式并离散化;构造泛函e,通过最小化泛函e来确定最佳奇异值截止值;采用L曲线法选取正则化参数α,结合最佳奇异值截止值构造滤波因子,得到粒径分布列向量的近似解形式;采用Chahine迭代算法进行迭代计算,得到收敛解,实现颗粒群粒径分布的测量。本方法引入的改进滤波因子极大程度地发挥模型的有效信息作用,对于粒径峰值间隔较近的颗粒系,可以实现高准确性和稳定性的粒径分布测量。
搜索关键词: 粒径分布 测量 滤波因子 颗粒群 泛函 粒径 截止 正则化参数 迭代计算 迭代算法 峰值间隔 积分方程 强度分布 散射技术 有效信息 近似解 离散化 列向量 曲线法 散射光 最小化 近场 收敛 引入 改进
【主权项】:
1.颗粒系粒径分布的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:利用近场散射技术,将CCD相机拍摄到的颗粒系散斑图像处理成包含颗粒粒度信息的散射光强度分布,建立其与颗粒群粒径的积分方程关系式如下:IS(θ)=∫IMie(θ,D)N(D)dD   (1)式中,IS(θ)为散射角为θ时包含颗粒粒度信息的散射光强度,IMie(θ,D)是直径为D的颗粒在散射角为θ时的Mie散射光强,N(D)是颗粒粒径的频率分布;将散射角θ等分为m份,粒径D等分为n组,离散化处理式(1)得到线性方程组并归一化成矩阵形式:I=AX其中,I=(i1,i2,...,im)为散射光强角分布列向量,X=(x1,x2,…,xn)为粒径分布列向量,系数矩阵A的元素ai,j表示等效粒径为xi的颗粒在散射角θ时的散射光强;步骤二:对系数矩阵A进行SVD分解:其中,ui、vi是A的左右奇异值矩阵列向量,λi是递减排列的奇异值;建立广义逆矩阵其中,λk是最佳奇异值截止值;步骤三:构造泛函e如式(2),通过最小化泛函e来确定最佳奇异值截止值λk式中,R为分辨率矩阵,R=A*A;E为单位阵;cov[X]为协方差矩阵,cov[X]=σ2A*(A*)T,σ为观测噪声的方差;步骤四:采用L曲线法选取正则化参数α,结合最佳奇异值截止值λk构造滤波因子,得到粒径分布列向量的近似解形式:步骤五:用SIRT算法对式(3)进行非负约束,然后作为Chahine迭代算法的初始值进行迭代计算,得到收敛解,实现颗粒群粒径分布的测量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910162213.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top