[发明专利]频谱分析装置及频谱分析方法在审
| 申请号： | 201880067182.0 | 申请日： | 2018-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN111213052A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 福原诚史;藤原一彦;丸山芳弘 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65;G01N21/31;G01N21/41;G01N21/47;G01N21/64;G01N21/76 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦;黄浩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的频谱分析装置(1)是基于包含多个基准物中的任意一个或两个以上的基准物的分析对象物所产生的光的频谱对该分析对象物进行分析的装置，且具备排列变换部(10)、处理部(20)、学习部(30)及分析部(40)。排列变换部(10)基于基准物或分析对象物所产生的光的频谱而产生二维排列数据。处理部(20)具有深度神经网络。分析部(40)通过排列变换部(10)基于分析对象物所产生的光的频谱而使二维排列数据产生，使该二维排列数据作为分析对象数据输入至深度神经网络，且基于自深度神经网络输出的数据对分析对象物进行分析。由此，实现能高效率地进行高精度的频谱分析的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 频谱 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
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