[发明专利]测试向量元素内部的位值有效
| 申请号： | 201880044656.X | 申请日： | 2018-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN110832455B | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 格里戈里奥斯·马格克里斯;奈杰尔·约翰·斯蒂芬斯 | 申请（专利权）人： | ARM有限公司 |
| 主分类号： | G06F9/30 | 分类号： | G06F9/30 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 林强 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种设备和操作设备的方法。该设备响应于指定源向量寄存器和索引的位测试指令，而对存储在该源向量寄存器中的多个元素执行位测试步骤以生成多个结果位。该位测试步骤包括：针对多个元素中的每个经处理元素，根据在源向量寄存器的该经处理元素中由索引指示的位位置处的受测位的值来设置该多个结果位中的各个结果位。该位测试指令因此使需要执行多个位测试的程序代码的性能能够增加，且可合适地表述为为向量化形式。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 向量 元素 内部 | ||
【主权项】：
暂无信息
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