[发明专利]用于预测在装配单元中的缺陷的方法有效
| 申请号： | 201880037260.2 | 申请日： | 2018-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN110709688B | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 塞缪尔·布鲁斯·韦斯;安娜-卡特里娜·谢德列茨基;西蒙·科兹罗夫;安娜·乌林;米哈伊尔·奥库涅夫;伊萨克·苏金 | 申请（专利权）人： | 英卓美特公司 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 俞立文;杨明钊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于预测制造缺陷的方法的一个变形包括：访问由光学检查站记录的装配单元集合的一组检查图像；对于在该组检查图像中的每个检查图像，检测在检查图像中的特征集合，并生成在多维特征空间中表示该特征集合的向量；将在多维特征空间中的相邻向量分组到向量组集合内；以及响应于接收到指示在该装配单元集合中的与在该向量组集合中的第一向量组中的第一向量相关联的第一装配单元中的缺陷的第一检查结果，而用缺陷标注第一向量组，并且将与第一向量组中的第二向量相关联的第二装配单元标记为展示缺陷的特性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 预测 装配 单元 中的 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于预测制造缺陷的方法，所述方法包括：/n●访问在特定装配类型的装配单元集合的生产期间由光学检查站记录的所述装配单元集合的一组检查图像；/n●对于在所述一组检查图像中的每个检查图像：/n○检测在所述检查图像中的特征集合；以及/n○生成在向量集合中的在多维特征空间中表示所述特征集合的向量；/n●将在所述多维特征空间中的所述向量集合中的邻近向量分组到向量组集合内；以及/n●响应于接收到指示在所述装配单元集合中的与在所述向量组集合中的第一向量组中的第一向量相关联的第一装配单元中的缺陷的第一检查结果：/n○用所述缺陷标注所述第一向量组；以及/n○将与所述第一向量组中的第二向量相关联的第二装配单元标记为展示所述缺陷的特性。/n
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