[实用新型]一种用于半导体材料测试的四探针测试仪有效

专利信息
申请号: 201821649719.8 申请日: 2018-10-11
公开(公告)号: CN208999489U 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 刘红双 申请(专利权)人: 襄阳赛普尔电子有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 代理人: 冯子玲
地址: 441000 湖北省襄*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型涉及半导体生产设备技术领域,尤其是一种用于半导体材料测试的四探针测试仪,包括底座,底座的底部设有支撑柱,底座上设有竖杆,竖杆上设有安装支座,安装支座上设有调节螺杆,安装支座的一侧设有滑动板,滑动板的一端设有限位块,安装支座内设有卡槽,滑动板的一端设有固定支座,固定支座的两侧均设有第一连接杆,第一连接杆的一端设有第二连接杆,固定支座上设有第一转轴,第一转轴上设有齿轮和转动钮,第一转轴的一侧设有第二转轴,第二转轴上设有弧形板,弧形板上设有齿条,弧形板的一端设有探头,探头上设有接线头,探头的下方设有单晶段,底座上设有显示器,显示器接口端连接有导线。本实用新型的实用性强,值得推广。
搜索关键词: 转轴 安装支座 底座 固定支座 弧形板 滑动板 连接杆 半导体材料测试 四探针测试仪 本实用新型 探头 竖杆 半导体生产设备 显示器接口 调节螺杆 接线头 支撑柱 转动钮 齿轮 齿条 单晶 卡槽 位块 显示器
【主权项】:
1.一种用于半导体材料测试的四探针测试仪,包括底座(1),所述底座(1)的底部设有若干支撑柱(2),所述支撑柱(2)均与底座(1)固定连接,所述底座(1)的顶部设有竖杆(4),所述竖杆(4)固定连接在底座(1)上,所述竖杆(4)上设有安装支座(3),所述安装支座(3)卡接在竖杆(4)上,所述安装支座(3)的侧壁上设有调节螺杆(5),所述调节螺杆(5)贯穿安装支座(3)的侧壁且与竖杆(4)螺纹连接,其特征在于,所述安装支座(3)的顶部的一侧设有滑动板(6),所述滑动板(6)卡接在安装支座(3)的内部且与安装支座(3)滑动连接,所述滑动板(6)位于安装支座(3)的一端设有限位块(61),所述限位块(61)固定连接在滑动板(6)上,所述安装支座(3)内设有与限位块(61)相匹配的卡槽(31),所述限位块(61)卡接在卡槽(31)内且与卡槽(31)滑动连接,所述滑动板(6)远离安装支座(3)的一端设有固定支座(7),所述固定支座(7)固定连接在滑动板(6)上,所述固定支座(7)的两侧均设有第一连接杆(11),两个所述第一连接杆(11)的一端均通过销轴与固定支座(7)转动连接,两个所述第一连接杆(11)远离固定支座(7)的一端均设有第二连接杆(12),两个所述第二连接杆(12)的一端通过销轴与相对应的第一连接杆(11)转动连接,两个所述第二连接杆(12)远离相对应的第一连接杆(11)的一端均通过销轴与安装支座(3)转动连接,所述固定支座(7)上设有第一转轴(81),所述第一转轴(81)与固定支座(7)转动连接,所述第一转轴(81)的底端设有齿轮(8),所述齿轮(8)固定连接在第一转轴(81)上,所述第一转轴(81)的顶端设有转动钮(9),所述转动钮(9)固定连接在第一转轴(81)上,所述第一转轴(81)的一侧设有第二转轴(101),所述第二转轴(101)与固定支座(7)转动连接,所述第二转轴(101)上设有弧形板(10),所述弧形板(10)固定连接在第二转轴(101)上,所述弧形板(10)的弧形面上设有若干齿条(13),所述齿条(13)均固定连接在弧形板(10)上,所述弧形板(10)齿轮(8)与齿条(13)相互啮合,所述弧形板(10)远离齿轮(8)的一端设有探头(14),所述探头(14)与弧形板(10)固定连接,所述探头(14)的顶端设有接线头(15),所述接线头(15)固定连接在探头(14)上,所述探头(14)的下方设有单晶段(17),所述单晶段(17)设置在底座(1)上,所述底座(1)上设有显示器(18),所述显示器(18)固定连接在底座(1)上,所述显示器(18)接口端电性连接有导线(16),所述显示器(18)通过导线(16)与接线头(15)电性连接。
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