[发明专利]一种T/R芯片测试中夹具的识别方法有效
申请号: | 201811631421.9 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109709506B | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 徐宝令;丁志钊;季汉国;展利;乔宏志 | 申请(专利权)人: | 中电科思仪科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R35/02 | 分类号: | G01R35/02 |
代理公司: | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 | 代理人: | 林琪超 |
地址: | 266555 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提供了一种T/R芯片测试中夹具的识别方法,包括待测夹具和矢量网络分析仪,识别方法包括将矢量网络分析仪通过测试电缆与待测夹具相连;选取一个测试频段,在测试频段内均匀的选取50个点,利用矢量网络分析仪测这50个点的驻波比;测试频段的频率上限与待测夹具上的T/R芯片的工作频段的频率上限相同,测试频段的频率下限比待测夹具上的T/R芯片的工作频段的频率下限低1GHz;将50个驻波比求和得出驻波和,若驻波和<200:1为发射夹具,若驻波和≥200:1为接收夹具。本方法利用了夹具固有的驻波特性差异进行区分,不需要额外的识别电阻、电缆、万用表模块等,减少系统复杂程度和建设成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 夹具 识别 方法 | ||
【主权项】:
1.一种T/R芯片测试中夹具的识别方法,其特征在于,包括待测夹具和矢量网络分析仪,识别方法包括以下步骤:步骤1:将矢量网络分析仪通过测试电缆与待测夹具相连;步骤2:选取一个测试频段,在测试频段内均匀的选取50个点,利用矢量网络分析仪测这50个点的驻波比;测试频段的频率上限与待测夹具上的T/R芯片的工作频段的频率上限相同,测试频段的频率下限比待测夹具上的T/R芯片的工作频段的频率下限低1GHz;步骤3:将步骤2中50个驻波比求和得出驻波和,若驻波和<200:1为发射夹具,若驻波和≥200:1为接收夹具。
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