[发明专利]一种电子束对中检测管以及电子束对中检测装置有效

专利信息
申请号: 201811181722.6 申请日: 2018-10-11
公开(公告)号: CN109211101B 公开(公告)日: 2023-09-22
发明(设计)人: 王岩;赵伟霞;刘俊标;殷伯华;董增雅;王丽娟;韩立 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: G01B7/312 分类号: G01B7/312
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 程华
地址: 100000 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种电子束对中检测管以及电子束对中检测装置。电子束对中检测管,包括:绝缘件、输出电极以及检测感应片;绝缘件与输出电极采用钎焊方式焊接在一起;多个检测感应片围成一个中空结构;绝缘件包裹于所述中空结构的上部;中空结构置于电子束管内;输出电极与检测感应片一一对应;输出电极沿着绝缘件的内壁穿出,与外部的电信号检测装置相连接;电子束管内的电子束与感应片相接触时产生电信号,电信号通过输出电极传输至电信号检测装置,若电信号检测装置接收到电信号时,则电子束未处于合轴状态,对电子束进行对中校正调试。采用本发明所提供的电子束对中检测管以及电子束对中检测装置能够降低电子束对中校正调试难度,缩短调试时间。
搜索关键词: 一种 电子束 检测 以及 装置
【主权项】:
1.一种电子束对中检测管,其特征在于,包括:绝缘件、输出电极以及检测感应片;所述绝缘件与所述输出电极采用钎焊方式焊接在一起;所述输出电极包括多个;所述检测感应片包括多个;多个所述检测感应片围成一个中空结构;所述绝缘件包裹于所述中空结构的上部;所述绝缘件用于避免电流信号对所述电子束对中检测管进行干扰;所述中空结构置于电子束管内;所述输出电极与所述检测感应片一一对应且一个所述输出电极只与一个所述检测感应片相对应;相对应的所述输出电极以及所述检测感应片焊接在一起;所述输出电极沿着所述绝缘件的内壁穿出,与外部的电信号检测装置相连接;所述电子束管内的电子束与感应片相接触时,产生电信号,所述电信号通过所述输出电极传输至所述电信号检测装置,若所述电信号检测装置接收到所述电信号时,则确定所述电子束未处于合轴状态,对所述电子束进行对中校正调试。
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