[发明专利]超导带材磁场特性测量装置在审

专利信息
申请号: 201811149538.3 申请日: 2018-09-29
公开(公告)号: CN109143127A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 王邦柱;戴少涛;马韬;胡磊;张腾 申请(专利权)人: 北京交通大学
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 北京市商泰律师事务所 11255 代理人: 邹芳德
地址: 100044 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种超导带材磁场特性测量装置,属于超导带材性能测量装置技术领域,包括背景磁场发生装置,用于产生测量所述超导带材磁场特性的背景磁场;固定装置,用于将超导带材沿垂直于所述背景磁场的磁场方向固定于所述背景磁场中;旋转驱动机构,与所述固定装置连接,用于驱动所述固定装置带动所述超导带材在所述背景磁场中旋转。本发明通过伺服步进电机驱动超导带材在背景磁场中旋转,使超导带材与北背景磁场形成不同的角度,从而精确测量不同各向异性的超导带材提供高精度的磁场特性测量条件,结构简单,操作方便。
搜索关键词: 超导带材 背景磁场 磁场特性 固定装置 测量装置 测量 伺服步进电机 性能测量装置 旋转驱动机构 超导带材沿 驱动 测量条件 磁场方向 发生装置 垂直
【主权项】:
1.一种超导带材磁场特性测量装置,其特征在于,包括:背景磁场发生装置,用于产生测量所述超导带材磁场特性的背景磁场;固定装置,用于将超导带材沿垂直于所述背景磁场的磁场方向固定于所述背景磁场中;旋转驱动机构,与所述固定装置连接,用于驱动所述固定装置带动所述超导带材在所述背景磁场中旋转。
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