[发明专利]一种S698-T芯片的ATE测试方法及装置在审
| 申请号： | 201811115596.4 | 申请日： | 2018-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN109143038A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 颜军;王烈阳;赵厉 | 申请（专利权）人： | 珠海欧比特宇航科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 俞梁清 |
| 地址： | 519080 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供的一种用于S698‑T芯片MFIO模块、SRAM模块的ATE测试方法，能够及时发现S698‑T芯片SRAM的异常现象，所述测试方法可以全面验证S698‑T芯片SRAM的功能特性，包括读写数据功能验证、直流参数验证和交流参数验证。基于J750EX测试机台对S698‑T芯片SRAM测试可以快速精确地发现异常现象，提高SOC芯片测试效率，缩短测试周期，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 异常现象 验证 测试 测试成本 测试机台 测试效率 测试周期 读写数据 功能特性 功能验证 交流参数 直流参数 发现 | ||
【主权项】：
1.一种S698‑T芯片的ATE测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S100)读入包含芯片参数的测试代码；S200)将所述测试代码转换为ATE测试机台识别的测试数据；S300)向芯片发送所述测试数据；S400)储存芯片对所述测试数据响应的输出数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于珠海欧比特宇航科技股份有限公司，未经珠海欧比特宇航科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811115596.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种无线充电功能测试设备
- 下一篇：单固定型故障低功耗测试方法
