[发明专利]一种高精度无损检测材料相对介电常数的计算方法及系统在审
| 申请号： | 201811034433.3 | 申请日： | 2018-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN108802500A | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 毛小松;徐志;杨晓静 | 申请（专利权）人： | 苏州奇摩智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01V3/12;G01V3/38;G01S7/41 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215009 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种高精度无损检测材料相对介电常数的计算方法及系统，其通过对入射角θi和/或测试距离Lr实时变化的测试结果进行优化从而高精度计算出待测材料的相对介电常数，包括如下步骤：a.获取界面反射系数幅值Γ，并基于所述界面反射系数幅值Γ获取待测试材料的第一相对介电常数εr1，通过测试距离优化结果、入射角度优化结果以及入射角度与测试距离同步优化结果等计算方式，极大的减少了相对介电常数的误差，实现了无损检测材料相对介电常数的高精度，本发明操作简单，使用方便，实用性强，提供了一种高精度无损检测材料相对介电常数的计算方法及系统，具有极高的检测价值。 | ||
| 搜索关键词： | 相对介电常数 无损检测 计算方法及系统 测试距离 入射角 界面反射系数 测试材料 待测材料 计算方式 精度计算 实时变化 同步优化 优化结果 度优化 检测 优化 | ||
【主权项】：
1.一种高精度无损检测材料相对介电常数的计算方法，其通过对入射角θi和/或测试距离Lr实时变化的测试结果进行优化从而高精度计算出待测材料的相对介电常数，其特征在于，包括如下步骤：a.获取界面反射系数幅值Γ，并基于所述界面反射系数幅值Γ获取待测试材料的第一相对介电常数εr1。
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