[发明专利]热插拔测试装置在审
申请号: | 201810996898.0 | 申请日: | 2018-08-29 |
公开(公告)号: | CN110874293A | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 赵言涛;倪勇 | 申请(专利权)人: | 北京忆恒创源科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/273 |
代理公司: | 北京卓特专利代理事务所(普通合伙) 11572 | 代理人: | 段宇 |
地址: | 100192 北京市海淀区西小口*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请涉及测试技术,更具体地,涉及用于对电子设备的热插拔功能进行测试的测试装置,包括:信号开关、电源开关和控制器;所述控制器耦合于所述信号开关和所述电源开关,通过执行测试命令控制所述信号开关和/或所述电源开关的闭合与断开;所述信号开关用于耦合主机和被测试的电子设备,通过所述信号开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间信号的连通与断开;所述电源开关用于耦合主机和被测试的电子设备,通过所述电源开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间电源的连通与断开。通过本申请提供的热插拔测试装置可以在电子设备的研发及生产过程中,对其热插拔功能进行测试,检验热插拔功能是否正确。 | ||
搜索关键词: | 热插拔 测试 装置 | ||
【主权项】:
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