[发明专利]热插拔测试装置

权利要求书

1.一种热插拔测试装置，包括：信号开关、电源开关和控制器；

所述控制器耦合于所述信号开关和所述电源开关，通过执行测试命令控制所述信号开关和/或所述电源开关的闭合与断开；

所述信号开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述信号开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间信号的连通与断开；

所述电源开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述电源开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间电源的连通与断开。

2.根据权利要求1所述的热插拔测试装置，其中，还包括：继电器，所述控制器通过所述继电器耦合于主机的电源针脚或复位针脚。

3.根据权利要求1或2所述的热插拔测试装置，其中，所述信号开关用于耦合于主机的PCIe插槽的用于传输数据的信号针脚和电子设备的PCIe信号针脚；所述电源开关用于耦合主机的PCIe插槽提供电源的针脚和电子设备的电源针脚。

4.根据权利要求1或2所述的热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括测试目标和测试模式，所述测试目标指示测试命令要操作的对象，所述测试模式指示对测试目标的操作模式。

5.根据权利要求1或2所述的热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括设置模式和模式码，所述设置模式指示所述控制器根据所述模式码获取对应的测试模式，并将获取的测试模式设置为所述测试命令指示的对测试目标的操作模式。

6.根据权利要求5所述的热插拔测试设备，其中，所述模式码指示的操作模式为在上电过程中，先闭合电源开关，在指定的时间后，再闭合信号开关；以及在下电过程中，先断开信号开关，在指定的时间后，再断开电源开关。

7.根据权利要求1或2所述的热插拔测试装置，还包括：第一连接器与第二连接器，所述第一连接器用于连接被测试的所述电子设备的PCIe针脚，所述第二连接器用于连接所述主机的PCIe插槽；

所述信号开关通过所述第一连接器耦合所述电子设备的PCIe信号针脚，通过所述第二连接器耦合所述主机的PCIe信号针脚；

所述电源开关通过所述第一连接器耦合所述电子设备的电源针脚，通过所述第二连接器耦合所述主机的电源针脚。

8.一种热插拔测试系统，包括：测试控制单元、主机和权利要求1至7任一项所述的热插拔测试装置，其中，所述主机通过所述热插拔测试装置操作被测试的电子设备，所述测试控制单元耦合于所述热插拔测试装置的控制器，并且所述测试控制单元向所述热插拔测试装置的控制器提供测试命令。

9.根据权利要求8所述的热插拔测试系统，其中，所述测试控制单元耦合于所述主机，所述测试控制单元根据所述主机的指示，向所述热插拔测试设备提供测试命令。

10.根据权利要求8或9任一项所述的热插拔测试系统，其中，所述主机响应于无法访问所述电子设备，指示所述测试控制单元获取所述电子设备的调试信息或执行日志。