[发明专利]热插拔测试装置

说明书

本申请涉及测试技术，更具体地，涉及用于对电子设备的热插拔功能进行测试的测试装置，包括：信号开关、电源开关和控制器；所述控制器耦合于所述信号开关和所述电源开关，通过执行测试命令控制所述信号开关和/或所述电源开关的闭合与断开；所述信号开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述信号开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间信号的连通与断开；所述电源开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述电源开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间电源的连通与断开。通过本申请提供的热插拔测试装置可以在电子设备的研发及生产过程中，对其热插拔功能进行测试，检验热插拔功能是否正确。

技术领域

本申请涉及测试技术，更具体地，涉及用于对电子设备的热插拔功能进行测试的测试装置。

背景技术

计算机系统中的多种电子设备支持热插拔功能。例如，连接到计算机USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)端口的诸如鼠标、U盘等设备，连接到PCIe(Peripheral Component Interconnect Express,PCIe，高速外围组件互联)总线的板卡等，支持热插拔功能。连接到PCIe总线的固态硬盘，也提供热插拔功能。

在支持热插拔功能的设备的研发及生产过程中，需要对其热插拔功能进行测试。以检验热插拔功能是否正确。为确保可靠性，热插拔测试要进行数百乃至上千次。需要专用的测试装置来实施热插拔测试。

发明内容

本申请提供的热插拔测试装置可以在电子设备的研发及生产过程中，对其热插拔功能进行测试，检验热插拔功能是否正确。

根据本申请的第一方面，提供了根据本申请第一方面的第一热插拔测试装置，包括：信号开关、电源开关和控制器；所述控制器耦合于所述信号开关和所述电源开关，通过执行测试命令控制所述信号开关和/或所述电源开关的闭合与断开；所述信号开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述信号开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间信号的连通与断开；所述电源开关用于耦合主机和被测试的电子设备，通过所述电源开关的闭合与断开控制主机和电子设备之间电源的连通与断开。

根据本申请的第一方面的第一热插拔测试装置，其中，所述控制器耦合于主机的电源针脚，通过测试命令控制主机开机或关机。

根据本申请的第一方面的第一或第二热插拔测试装置，其中，所述控制器耦合于主机的复位针脚，通过测试命令控制主机重启。

根据本申请的第一方面的第二或第三热插拔测试装置，其中，还包括：继电器，所述控制器通过所述继电器耦合于主机的电源针脚或复位针脚。

根据本申请的第一方面的第一至第四热插拔测试装置之一，其中，所述信号开关为PCLe信号开关，所述信号开关用于耦合于主机的PCIe插槽的用于传输数据的信号针脚和电子设备的PCIe信号针脚；所述电源开关用于耦合主机的PCIe插槽提供电源的针脚和电子设备的电源针脚。

根据本申请的第一方面的第一至第五热插拔测试装置之一，其中，所述测试命令包括测试目标和测试模式，所述测试目标指示测试命令要操作的对象，所述测试模式指示对测试目标的操作模式。

根据本申请的第一方面的第六热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括时间，所述时间指示所述操作模式执行的时间长度。

根据本申请的第一方面的第六或第七热插拔测试装置，其中，所述操作模式为闭合、断开的执行顺序。

根据本申请的第一方面的第六或第七热插拔测试装置，其中，所述测试命令包括执行次数，所述执行次数指示所述操作模式执行的次数。

根据本申请的第一方面的第六至第九热插拔测试装置之一，其中，所述测试命令包括设置模式和模式码，所述设置模式指示所述控制器根据所述模式码获取对应的测试模式，并将获取的测试模式设置为所述测试命令指示的对测试目标的操作模式。