[发明专利]微带器件测试夹具

摘要

本发明公开了一种微带器件测试夹具，包括基板（1）、支架（2）和测试模块（3），其中，所述支架（2）位于基板（1）上，所述测试模块（3）位于支架（2）上；所述测试模块（3）包括腔体（6）、弹性簧片（7）、下顶片（8）、手柄（9）、限位板（10）、测试连接器（11）和测试插针（12）；本发明可以有效解决传统微带测试夹具插针易损、接地不良和生产效率低下的问题，本发明的使用频率DC～60GHz，而传统微带测试夹具使用频率DC～20GHz，大大延展了微带器件的测试频率，本发明的测试效率为≤1.2分钟/只，而传统微带测试夹具测试效率为≥10分钟/只，大大提升了测试效率，并且提升了微带器件测试夹具测试的准确性。

主权项

1.一种微带器件测试夹具，其特征在于：包括基板（1）、支架（2）和测试模块（3），其中，所述支架（2）位于基板（1）上，所述测试模块（3）位于支架（2）上；所述测试模块（3）包括腔体（6）、弹性簧片（7）、下顶片（8）、手柄（9）、限位板（10）、测试连接器（11）和测试插针（12），其中，所述弹性簧片（7）位于腔体（6）内上方，所述下顶片（8）与腔体（6）贴合，下顶片（8）与手柄（9）相连，所述限位板（10）位于腔体（6）顶部，所述测试插针（12）位于下顶片（8）与限位板（10）之间，所述测试连接器（11）位于腔体（6）上方。