[发明专利]有机硅产品中金属杂质的测定方法在审
| 申请号： | 201810926859.3 | 申请日： | 2018-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN110836888A | 公开（公告）日： | 2020-02-25 |
| 发明（设计）人： | 田青松;李娟;丁嘉蕾;宋娟;杨珊;殷加伟 | 申请（专利权）人： | 张家港市国泰华荣化工新材料有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N1/44 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 黄春松 |
| 地址： | 215634 江苏省苏州市张家港市扬子江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种有机硅产品中金属杂质的测定方法，包括以下步骤，一、配置若干梯度浓度的标准溶液；二、样品处理：取待测样品，加热，加入浓硫酸，待测样品与浓硫酸完全反应后加入HF，持续加热，待气体挥发完全后，冷却至室温，加入稀释剂稀释、定容得待测样品溶液；三、不取待测样品，重复第二步中的其余步骤，得制备空白；四、使用电感耦合等离子体发射光谱仪，分别输入标准溶液的浓度值、待测样品溶液稀释的倍数，依次测定分析空白、标准溶液、制备空白以及待测样品溶液，分析空白为稀释剂，以测定若干标准溶液作为标准曲线，采用外标法得出待测样品溶液中金属杂质的含量。本发明的优点在于：准确性高、稳定性好且能避免其他杂质的干扰。 | ||
| 搜索关键词： | 有机硅 产品 金属 杂质 测定 方法 | ||
【主权项】：
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