[发明专利]集成电路测试的管理方法、装置和系统有效
| 申请号： | 201810909282.5 | 申请日： | 2018-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN110830319B | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;H04L29/08 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 陈建焕;杨瑾瑾 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种集成电路测试的管理方法、装置和系统。方法包括如下步骤：管理服务器将测试程序上传至FTP服务器存储，并生成所述测试程序的存储路径和上传信息，所述测试程序的上传信息包括所述管理服务器向所述FTP服务器上传的所述测试程序的信息；所述管理服务器将所述测试程序的存储路径发送至测试服务器；所述管理服务器接收来自所述测试服务器的所述测试程序的下载信息，所述测试程序的下载信息包括所述测试服务器从所述FTP服务器下载得到的所述测试程序的信息；所述管理服务器根据所述测试程序的上传信息与下载信息，判断所述测试程序交付是否成功。装置和系统用于实现上述方法。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 管理 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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