[发明专利]制备MALDI-TOF MS成像基质的超声喷雾装置和方法及应用在审

专利信息
申请号: 201810589765.1 申请日: 2018-06-08
公开(公告)号: CN110581052A 公开(公告)日: 2019-12-17
发明(设计)人: 聂宗秀;黄熹;占铃鹏;孙洁;刘会会 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;H01J49/04;G01N27/64
代理公司: 11283 北京润平知识产权代理有限公司 代理人: 刘依云;乔雪微
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及基质喷涂领域,公开了制备MALDI‑TOF MS成像基质的超声喷雾装置和方法及应用。一种制备MALDI‑TOF MS成像基质的超声喷雾装置,该装置包括:溶液池(1)、置于溶液池(1)的底座凹槽内的雾化片(2),以及与所述雾化片(2)通过电线连接的控制器(3);其中,所述溶液池(1)用于盛放含有基质的喷涂液,所述控制器(3)发生电子高频震荡使所述雾化片(2)产生高频谐振,将所述喷涂液打散形成雾滴。采用本发明的超声喷雾装置进行基质喷涂具有成本低廉,制备的MALDI‑TOF MS成像基质的晶粒致密细小的优点,能够得到高分辨率的MALDI‑TOF MS成像效果。
搜索关键词: 基质 超声喷雾装置 溶液池 雾化片 制备 成像 控制器 喷涂液 致密 晶粒 成像效果 底座凹槽 电线连接 电子高频 高分辨率 高频谐振 喷涂领域 打散 喷涂 盛放 雾滴 震荡 应用
【主权项】:
1.一种制备MALDI-TOF MS成像基质的超声喷雾装置,其特征在于,该装置包括:溶液池(1)、置于溶液池(1)的底座凹槽内的雾化片(2),以及与所述雾化片(2)通过电线连接的控制器(3);/n其中,所述溶液池(1)用于盛放含有基质的喷涂液,所述控制器(3)发生电子高频震荡使所述雾化片(2)产生高频谐振,将所述喷涂液打散形成雾滴。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院化学研究所,未经中国科学院化学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810589765.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
  • 提高质谱灵敏度方法和装置-201711366703.6
  • 刘平;喻佳俊;朱星高;黄利勇;林利泉;曾真;陈颖 - 广州禾信康源医疗科技有限公司
  • 2017-12-18 - 2020-01-31 - H01J49/00
  • 本发明涉及一种提高质谱灵敏度方法和装置,用于飞行时间质谱,其方法包括以下步骤:获取第一个离子到达离子检测器的初始时间值、离子检测器的基准电压值和离子检测器的电压调节函数,其中电压调节函数用于记录施加在离子检测器的工作电压随离子飞行时间变化的对应关系;根据初始时间值、基准电压值和电压调节函数,计算在预设的离子飞行时间范围内连续变化的目标电压值,并将目标电压值发送至飞行时间质谱的控制电路,以使控制电路根据的目标电压值来调节施加在离子检测器的工作电压。上述的提高质谱灵敏度方法在离子检测器上施加变化的电压,提高检测器对离子检测的增益从而提升质谱仪的检测灵敏度,检测灵敏度高提高效果显著。
  • 质谱仪碰撞能量的自动测定-201880035403.6
  • P·F·叶;H·L·卡达西斯;小詹姆斯·L·斯蒂芬森 - 萨默费尼根有限公司
  • 2018-05-07 - 2020-01-14 - H01J49/00
  • 本公开建立了新的解离参数,所述参数能用于测定使用碰撞池类型碰撞诱导解离来实现给定分析物前体离子的期望解离程度所需的碰撞能量(CE)。这种选择仅基于所述分析物前体离子的分子量MW和电荷态z。提出了能用作“解离程度”的参数的度量,并且针对实现每个度量的一系列值所需的CE建立了预测模型。每个模型都仅是前体离子的MW和z的简单平滑函数。通过结合实时质谱去卷积(m/z到质量)算法,根据本发明的方法能够通过以前体依赖性方式对碰撞能量进行自动实时选择来控制所述解离程度。
  • 加速器质谱系统和相关方法-201910515707.9
  • 迪尔克·约瑟夫·威廉·茂斯 - 欧洲高压工程公司
  • 2019-06-14 - 2019-12-24 - H01J49/00
  • 本申请公开了用于测量样品中化学元素的同位素比率的加速器质谱系统和相关方法,系统包括:离子源;第一分析器部分;串列加速器,其包括第一加速部分、电荷剥离部分和其后面的第二加速部分;第二分析器部分,其包括第二质量分析器和静电分析器;粒子探测器;和控制器系统,其被配置为控制第一和第二分析器部分,其中附加分析器位于电荷剥离部分和第二加速部分之间,被配置为接收已离开电荷剥离部分的正离子,并将具有对应于预定电荷状态值的电荷状态的正离子与具有不对应于预定电荷状态值的电荷状态的正离子分离,以便在相互不同方向上传输具有不同电荷状态的离子,使得只有具有对应于预定电荷状态值的电荷状态的离子被朝向粒子探测器传输。
  • 制备MALDI-TOF MS成像基质的超声喷雾装置和方法及应用-201810589765.1
  • 聂宗秀;黄熹;占铃鹏;孙洁;刘会会 - 中国科学院化学研究所
  • 2018-06-08 - 2019-12-17 - H01J49/00
  • 本发明涉及基质喷涂领域,公开了制备MALDI‑TOF MS成像基质的超声喷雾装置和方法及应用。一种制备MALDI‑TOF MS成像基质的超声喷雾装置,该装置包括:溶液池(1)、置于溶液池(1)的底座凹槽内的雾化片(2),以及与所述雾化片(2)通过电线连接的控制器(3);其中,所述溶液池(1)用于盛放含有基质的喷涂液,所述控制器(3)发生电子高频震荡使所述雾化片(2)产生高频谐振,将所述喷涂液打散形成雾滴。采用本发明的超声喷雾装置进行基质喷涂具有成本低廉,制备的MALDI‑TOF MS成像基质的晶粒致密细小的优点,能够得到高分辨率的MALDI‑TOF MS成像效果。
  • 一种红外光解离光谱仪装置-201920604838.X
  • 黄伟;彭秀球;徐才鑫;黄腾 - 中国科学技术大学
  • 2019-04-28 - 2019-11-22 - H01J49/00
  • 本申请实施例公开了一种红外光解离光谱仪装置,包括离子源、质谱组成元件和光谱组成元件,所述离子源用于产生预设离子,所述质谱组成元件用于从所述预设离子中筛选出特定离子,所述光谱组成元件用于获得所述特定离子的光谱图;其中,所述质谱组成元件由双曲面线性离子阱系统代替飞行时间质谱系统,从而大大减小了所述质谱组成元件的体积,进而减小了所述红外光解离光谱仪装置的体积,以便于携带用于外场实验观测。
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top