[发明专利]磁共振成像中测量K空间轨迹的方法、装置及存储介质有效
| 申请号： | 201810372416.4 | 申请日： | 2018-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN110398705B | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 史中强;翁得河 | 申请（专利权）人： | 西门子（深圳）磁共振有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/48 | 分类号： | G01R33/48;G01R33/565;G01R33/58 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁共振成像中测量K空间轨迹的方法、装置及存储介质，包括：在任意空间编码方向上，在射频激励脉冲之后设置一空白窗，在所述空白窗内采集第一磁共振信号，得到所述第一磁共振信号的相位；在所述空白窗之外施加被测梯度场，并采集第二磁共振信号，得到所述第二磁共振信号的相位；根据所述第一磁共振信号的相位和所述第二磁共振信号的相位分别得到第一K空间轨迹和第二K空间轨迹；根据所述第一K空间轨迹和第二K空间轨迹确定所述空间编码方向上校准后的K空间轨迹。通过本发明，在磁共振成像中测量K空间轨迹时，可以分离背景场对被测磁共振信号相位的影响，提高K空间轨迹测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 磁共振 成像 测量 空间 轨迹 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.磁共振成像中测量K空间轨迹的方法，其特征在于，包括：施加一射频激励脉冲及一选层梯度脉冲；在任意空间编码方向上，在所述射频激励脉冲之后设置一空白窗；其中，在所述空白窗内不施加任何梯度场；在所述空白窗内采集基于所述射频激励脉冲的第一磁共振信号，得到所述第一磁共振信号的相位；在所述空白窗之外施加被测梯度场，并采集基于所述射频激励脉冲及所述被测梯度场的第二磁共振信号，得到所述第二磁共振信号的相位；根据所述第一磁共振信号的相位和所述第二磁共振信号的相位分别得到第一K空间轨迹和第二K空间轨迹；以及，根据所述第一K空间轨迹和第二K空间轨迹确定所述空间编码方向上校准后的K空间轨迹。
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