[发明专利]适用于微纳卫星的轻小型电离层光度计在审
申请号: | 201810349603.0 | 申请日: | 2018-04-18 |
公开(公告)号: | CN108613739A | 公开(公告)日: | 2018-10-02 |
发明(设计)人: | 彭吉龙;易忠;于钱;马子良;田东波;张凯;聂翔宇;冯桃君 | 申请(专利权)人: | 北京卫星环境工程研究所 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种适用于微纳卫星平台的电离层光度计,包括中空抛物面反射镜、MCP型抗振探测器及电路板,反射镜与探测器依次设置在电路板上并使入射到反射板上的光线汇聚进探测器中,探测器包括支撑框架以及框架内的BaF2晶体窗口,微通道板,探测器阳极和高压电源,光线经BaF2晶体窗口滤除杂散光后通过微通道板进行光电转换及电子倍增,并经由探测器阳极接收倍增电荷云信号。本发明将现有光度计的重量由5Kg以上减轻为1Kg以下,体积减小50%以上且减少了光子滤光片损失,使仪器灵敏度提高30%以上,适用于批量加工,降低批量化生产成本。 | ||
搜索关键词: | 探测器 光度计 电路板 探测器阳极 电离层 微纳卫星 微通道板 倍增 抛物面反射镜 仪器灵敏度 高压电源 光电转换 光线汇聚 批量加工 体积减小 依次设置 支撑框架 电荷 反射板 反射镜 滤光片 批量化 杂散光 光子 中空 抗振 滤除 入射 生产成本 | ||
【主权项】:
1.适用于微纳卫星平台的电离层光度计,包括中空抛物面反射镜、MCP型抗振探测器及电路板,中空铝抛物面反射镜与MCP型抗振探测器依次设置在电路板上并且使得入射到中空铝抛物面反射镜上的全部光线反射汇聚进入上述探测器中,其中上述探测器包括支撑框架以及依次设置在支撑框架内的BaF2晶体窗口,表面镀有CsI阴极的微通道板,探测器阳极和高压电源,汇聚到探测器中的光线经BaF2晶体窗口滤除杂散光后通过微通道板进行光电转换及电子倍增,并经由探测器阳极接收倍增电荷云信号;高压电源用于给微通道板及阳极供电。
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