[发明专利]测量结构有效

专利信息
申请号: 201810342883.2 申请日: 2018-04-17
公开(公告)号: CN110389262B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 茆淑容;苏哲毅;廖春成;陈禹均;吕崧弘;陈柏宏 申请(专利权)人: 京元电子股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种测量结构,包含测量主系统、测试模块、单一模拟信号供应装置、单对多模拟信号输出接口及待测装置。单一模拟信号供应装置根据测量主系统的指令而输出一模拟信号;单对多模拟信号输出接口接收来自单一模拟信号供应装置的模拟信号,并提供多个通道以将模拟信号同步输出;待测装置放置多个待测物,以供待测物分别接收通过该多个通道中的其中一通道的模拟信号。
搜索关键词: 测量 结构
【主权项】:
1.一种测量结构,包含:一测量主系统,具有一测试模块;至少一单一模拟信号供应装置,以根据测量主系统的指令而输出一模拟信号;至少一单对多模拟信号输出接口,接收来自该单一模拟信号供应装置的该模拟信号,并提供多个通道以将该模拟信号同步输出;以及一待测装置,用以放置多个待测物,使该多个待测物分别接收通过该至少一单对多模拟信号输出接口的该多个通道中的其中一通道的该模拟信号。
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