[发明专利]合成孔径雷达干涉测量中地面控制点自动选取方法

摘要

本发明公开一种合成孔径雷达干涉测量中地面控制点自动选取方法，包括以下步骤：从待干涉测量的多时序SAR SLC影像序列中，任意选取两幅影像构成干涉对，经干涉相位计算得到干涉图并计算相干系数图；按所需的GCP数量对干涉图进行分块，在对干涉对各像素求取干涉相位导数并统计各像素局部窗口内干涉相位导数方差的基础上，在各分块中搜索干涉相位稳定或连续均匀变化的区域，构成GCP的候选子集S1；在相干系数图上，筛选本身的相干系数高且其局部窗口内相干系数也高的像素，构成GCP的候选子集S2；求取GCP候选子集S1和S2的交集，得到初步GCP选取结果；依据GCP的数量和分布对GCP初选结果进行优化，获得GCP最终的GCP自动选取结果。本发明对于提高不同模式雷达干涉测量的自动化程度和精度有重要价值。

主权项

1.一种合成孔径雷达干涉测量中地面控制点自动选取方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一：从待干涉测量的多时序SAR SLC影像序列中，任意选取两幅SARSLC影像C1和C2，形成干涉对，利用窗口互相关算法对C1和C2进行自动配准，计算得到干涉图；步骤二：根据不同处理模式或环节需要的控制点数量k，在干涉图上相对均匀且自动地搜索相位平滑且连续的区域，将这些区域作为GCP潜在的分布区域，生成GCP候选子集S1；步骤三：对经配准的干涉对C1和C2，计算干涉对中各像素的相干系数γ，将相干系数高的像素予以标记，作为GCP的可能点位，生成GCP候选子集S2；步骤四：利用GCP候选子集S1和GCP候选子集S2，采用式(1)进行集合交运算，得到分布均匀、相位差稳定或呈连续变化且呈高相干的像素，并以这些像素(ci,ri)作为GCP候选点：S＝S1∩S2      式(1)步骤五：对GCP候选点集合S进行优化，使GCP的数量与需要或实际所输入的GCP数量k相等，最终得到满足需求的GCP数量及其分布。