[发明专利]存储芯片兼容性测试方法、系统和测试主机有效
申请号: | 201810332396.8 | 申请日: | 2018-04-13 |
公开(公告)号: | CN108519938B | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 廖博伦 | 申请(专利权)人: | 珠海全志科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/26 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 司佩杰;李双皓 |
地址: | 519080 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请涉及一种存储芯片兼容性测试方法、系统和测试主机。该方法包括:检测当前的测试芯片的兼容性测试是否完成;若完成,则检测测试板上安装的所有存储芯片是否测试完毕;若否,则向测试板发送切换指令,切换指令用于指示测试板断开当前的测试芯片与被测系统的连接,并将测试板上的一片待测存储芯片作为测试芯片与被测系统连接;向被测系统发送测试指令,测试指令用于指示被测系统对测试芯片执行兼容性测试的测试任务;获取与测试芯片对应的测试数据;返回检测当前的测试芯片的兼容性测试是否完成的步骤,直至测试板上安装的所有存储芯片测试完毕。实现了在兼容性测试中自动切换测试芯片,一次测试周期可对多片存储芯片的测试,提高了测试效率。 | ||
搜索关键词: | 存储 芯片 兼容性 测试 方法 系统 主机 | ||
【主权项】:
1.一种存储芯片兼容性测试方法,其特征在于,所述方法包括:检测当前的测试芯片的兼容性测试是否完成;若完成,则检测测试板上安装的所有存储芯片是否测试完毕;若否,则向所述测试板发送切换指令,所述切换指令用于指示所述测试板断开当前的测试芯片与被测系统的连接,并将所述测试板上的一片待测存储芯片作为测试芯片与所述被测系统连接;向所述被测系统发送测试指令,所述测试指令用于指示所述被测系统对所述测试芯片执行兼容性测试的测试任务;获取与所述测试芯片对应的测试数据;返回所述检测当前的测试芯片的兼容性测试是否完成的步骤,直至所述测试板上安装的所有存储芯片测试完毕。
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