[发明专利]一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法在审
| 申请号： | 201810322575.3 | 申请日： | 2018-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN108593774A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 高晓进;周金帅;江柏红 | 申请（专利权）人： | 航天特种材料及工艺技术研究所 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06;G01N29/44;G01B17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法，包括：获取复合材料产品的二值化超声C扫图；基于所述复合材料产品的二值化超声C扫图，分别确定复合材料产品长度方向和宽度方向的像素比例系数K1和K2；对于复合材料的超声C扫图上的各个缺陷，获取各个缺陷包含的像素的个数和，基于所述各个缺陷包含的像素的个数和以及K1和K2，获取各个缺陷的面积；对各个缺陷面积求和得到缺陷总面积。该方法实现了复合材料超声C扫缺陷面积准确、快速地计算，且工作量小，满足复合材料产品内部质量控制要求。 | ||
| 搜索关键词： | 超声C扫 复合材料产品 复合材料 像素 面积确定 二值化 质量控制要求 比例系数 求和 工作量 | ||
【主权项】：
1.一种复合材料超声C扫缺陷面积确定方法，其特征在于，通过以下步骤实现：步骤一、获取复合材料产品的二值化超声C扫图步骤二、基于所述复合材料产品的二值化超声C扫图，分别确定复合材料产品长度方向和宽度方向的像素比例系数K1和K2；步骤三、对于复合材料的超声C扫图上的各个缺陷，获取各个缺陷包含的像素的个数和，基于所述各个缺陷包含的像素的个数和以及K1和K2，获取各个缺陷的面积；步骤四、对各个缺陷面积求和得到缺陷总面积。
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