[发明专利]一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器有效
申请号: | 201810283713.1 | 申请日: | 2018-04-02 |
公开(公告)号: | CN108614287B | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 何赫杨 | 申请(专利权)人: | 帕粒科(北京)科技有限公司 |
主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29 |
代理公司: | 北京中南长风知识产权代理事务所(普通合伙) 11674 | 代理人: | 郑海 |
地址: | 102502 北京市房山*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,包括电离室外壳、电离室内芯单元、入射窗及出射窗,所述电离室内芯单元由两个高压极及一个信号集组成,所述信号集位于两个所述高压极中间;所述信号极由分别在电极膜正反两面形成的第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元组成,所述第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元分别用于测量水平及垂直方向的一维束流剖面。本发明通过在一张电极膜的正反两面形成两个一维剖面测量单元,大大节约了成本、简化了机械部分,同时降低了探测器的质量及厚度,降低了制造成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 实现 均匀 在线 测量 电离室 探测器 | ||
【主权项】:
1.一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,其特征在于,包括电离室外壳、电离室内芯单元、入射窗及出射窗,所述电离室内芯单元由两个高压极及一个信号集组成,所述信号集位于两个所述高压极中间;所述信号极由分别在电极膜正反两面形成的第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元组成,所述第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元分别用于测量水平及垂直方向的一维束流剖面。
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