[发明专利]一种宽视场大孔径空间外差干涉成像光谱仪有效
申请号: | 201810124459.0 | 申请日: | 2018-02-07 |
公开(公告)号: | CN108362381B | 公开(公告)日: | 2020-09-08 |
发明(设计)人: | 才啟胜;相里斌;黄旻;吕群波;赵宝玮;韩炜;钱路路;刘怡轩;路向宁 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电研究院 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01J3/02 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;郑哲 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种宽视场大孔径空间外差干涉成像光谱仪,该方案引入了一个平行平板,当入射干涉仪的视场较大时,平行平板可以补偿平行光栅对引入的横向剪切量随入射视场的变化;从而在较大的视场范围内,干涉图的频率只与入射光的波数相关,采用傅里叶变换即可复原出原始光谱信息。与大孔径空间外差干涉光谱成像技术相比,本发明通过引入一个平行平板,在保留了系统高光谱分辨率特点的同时增大了进入系统的视场角,可提高约一个数量级,使得仪器的光通量大幅提高,这是宽视场大孔径空间外差干涉光谱成像技术的突出优点。 | ||
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【主权项】:
1.一种宽视场大孔径空间外差干涉成像光谱仪,其特征在于,包括:准直镜、横向剪切干涉仪、成像镜、探测器和数据处理系统;所述横向剪切干涉仪包括:分束器,第一与第二平面反射镜,一对平行光栅以及平行平板;物面上的某点发出的光经过准直镜准直后成为平行光进入横向剪切干涉仪中,分束器将平行光分为逆时针传播的透射光和顺时针传播的反射光两路;透射光射向第一平面反射镜,反射光射向第二平面反射镜,透射光经第一平面反射镜反射至第二平面反射镜后从分束器透射而出,反射光经第二平面反射镜反射至第一平面反射镜后从分束器反射而出;其中,平行平板设置在分束器与第一平面反射镜的光路上、分束器与第二平面反射镜的光路上,或者第一与第二平面反射镜的光路上;一对平行光栅设置在分束器与第一平面反射镜的光路上、分束器与第二平面反射镜的光路上,或者第一与第二平面反射镜的光路上;两路光从横向剪切干涉仪平行出射,产生了一个横向剪切量,经过成像镜后在探测器上得到受干涉强度调制的目标点强度信息,探测器的不同位置处得到不同地物目标点的不同光程差信息,通过推扫成像和干涉图提取可以得到目标的完整干涉信息,最终由数据处理系统进行光谱复原从而复原出原始光谱信息。
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