[发明专利]一种测量聚合物超痕量放射性本底的检测方法有效
| 申请号： | 201810023562.6 | 申请日： | 2018-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN108414607B | 公开（公告）日： | 2021-01-01 |
| 发明（设计）人： | 刘洪涛 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G01N1/44 |
| 代理公司： | 北京市万慧达律师事务所 11111 | 代理人： | 谢敏楠 |
| 地址： | 510275 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于分析化学领域，涉及一种测量聚合物中超痕量放射性本底的检测方法。本发明采用干灰化法的前处理方式，建立了ICP‑MS测量超痕量放射性本底的分析方法，实现了有机玻璃中超痕量元素的分析。本发明的检测方法检出限可达1pg/g以下，此外，本发明的方法还具有操作简单、快速、准确的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 聚合物 痕量 放射性 本底 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量聚合物中超痕量放射性本底的检测方法，其特征在于包含以下步骤：(1)将聚合物置于石英坩埚中焦化处理；(2)经焦化处理的聚合物连同坩埚灰化至无明显残渣；(3)灰化后冷却至室温，在坩埚中加入含HNO3和HCl的水溶液；(4)加热石英坩埚至溶液微沸；(5)冷却后用ICP‑MS测定。
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