[发明专利]用于减少图像伪影的方法

摘要

本发明涉及用于减少图像伪影的方法，通过X射线发射器(4)和X射线检测器(5)从不同角度采集透射辐照的对象(O)的至少两个投影(I₀，I₁，I_k)，X射线检测器(5)定义投影平面(P)。该方法包括：‑确定校正模型(f)，其对于其参数(w_n)是线性的，并且对至少两个投影(I₀，I₁，I_k)有效；‑在至少两个投影(I₀，I₁，I_k)的投影平面(P)中，标识对应于共同极平面(E)的至少两条极线(l₀，l₁，l_k)；‑考虑独立于参数(w_n)的数据项(a_n)，通过优化确定校正模型(f)的参数(w_n)，该数据项量化应用到极线(l₀，l₁，l_k)的、至少两个投影(I₀，I₁，I_k)的一致性条件；‑基于由此确定的参数(w_n)确定伪影减少的图像数据。

主权项

1.一种用于减少多个图像伪影的方法，其中一个透射辐照的对象(O)的至少两个投影(I₀,I₁,I_k)通过一个X射线发射器(4)和一个X射线检测器(5)从多个不同角度被采集，所述X射线检测器(5)定义一个投影平面(P)，其特征在于：‑确定一个校正模型(f)，所述校正模型(f)在所述校正模型(f)的要被优化的多个参数(w_n)方面是线性的，所述校正模型(f)对于所述至少两个投影(I₀,I₁,I_k)有效；‑在所述至少两个投影(I₀,I₁,I_k)的多个所述投影平面(P)中标识至少两条极线(l₀,l₁,l_k)，所述至少两条极线(l₀,l₁,l_k)对应于一个共同极平面(E)；‑考虑独立于所述校正模型(f)的所述多个参数(w_n)的多个数据项(a_n)，通过优化来确定所述多个参数(w_n)，所述多个数据项量化所述至少两个投影(I₀,I₁,I_k)的一个一致性条件，所述一致性条件应用于所述极线(l₀,l₁,l_k)；‑基于由此确定的所述多个参数(w_n)来确定伪影被减少的图像数据。