[发明专利]镜面裸片图像识别系统有效
申请号: | 201780074175.9 | 申请日: | 2017-01-06 |
公开(公告)号: | CN110024085B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 岩濑友则;森下正浩 | 申请(专利权)人: | 株式会社富士 |
主分类号: | H01L21/301 | 分类号: | H01L21/301;H01L21/66 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 穆德骏;安翔 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 镜面裸片图像识别系统从晶圆(30)的多个裸片(31)中区别于有缺损的镜面裸片和生产裸片来识别形状为与有图案的生产裸片相同的四边形状且无图案和缺损的镜面裸片,该镜面裸片图像识别系统具备:相机(42),将晶圆的至少一部分收于视场而进行拍摄;及图像处理装置,对由上述相机拍摄到的图像进行处理而从该图像中的各裸片中区别于其他裸片来识别无缺损的镜面裸片。该图像处理装置取得由上述相机拍摄到的图像中的包含相当于各裸片的四个角部分和中央部分的区域在内的至少五个区域的亮度,判定是否可视为至少五个区域的亮度恒定,将可视为至少五个区域的亮度恒定的裸片识别为无缺损的镜面裸片。 | ||
搜索关键词: | 镜面裸片 图像 识别 系统 | ||
【主权项】:
1.一种镜面裸片图像识别系统,从以分割成多个裸片的方式被切割的晶圆的多个裸片中,区别于有缺损的镜面裸片和生产裸片来识别形状为与有图案的生产裸片相同的四边形状且无图案和缺损的镜面裸片,所述镜面裸片图像识别系统的特征在于,具备:相机,将晶圆的至少一部分收于视场内而进行拍摄;及图像处理装置,对由所述相机拍摄到的图像进行处理而从所述图像中的各裸片中区别于其他裸片来识别无缺损的镜面裸片,所述图像处理装置取得所述图像中的包含相当于各裸片的四个角部分和中央部分的区域在内的至少五个区域的亮度,判定是否可视为至少五个区域的亮度恒定,将可视为至少五个区域的亮度恒定的裸片识别为无缺损的镜面裸片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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