[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器在审
| 申请号： | 201780039698.X | 申请日： | 2017-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN109416249A | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | S·瓦鲁施;R·森德;I·布鲁德;N·安德马尔;A·沃格勒;J-M·阿斯福尔 | 申请（专利权）人： | 特里纳米克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01C3/06 | 分类号： | G01C3/06;G01S17/46;G01S3/786;G02B27/10 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 姜利芳;杨晓光 |
| 地址： | 德国路*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 公开了一种用于光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(134)，其中纵向光学传感器(114)被设计为以取决于由光束对传感器区域(134)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的照射总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(134)中光束的束横截面；‑至少一个传送装置(128)，其中传送装置(128)响应于至少一个入射光束呈现至少两个不同的焦距，其中传送装置(128)适于取决于相应光束的波长，调节具有第一波长的至少一个第一光束(130)和具有与第一波长不同的第二波长的至少一个第二光束(132)的束横截面，使得在传感器区域中(134)中，第一光束(130)的束横截面不同于第二光束(132)的束横截面；以及‑至少一个评估装置(156)，其中评估装置(156)适于将纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号区分为取决于由第一光束对传感器区域(134)的照射的第一纵向传感器信号和取决于由第二光束对传感器区域(134)的照射的第二纵向传感器信号，其中评估装置(156)被设计为通过评估第一纵向传感器信号和第二纵向传感器信号，生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。 | ||
| 搜索关键词： | 纵向传感器 传感器区域 光学传感器 波长 检测器 传送装置 评估装置 照射 光学检测 入射光束 纵向位置 焦距 信息项 总功率 响应 评估 | ||
【主权项】：
1.一种用于光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)，所述检测器(110)包括：‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中所述纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(134)，其中所述纵向光学传感器(114)被设计为以取决于由光束对所述传感器区域(134)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的所述照射的总功率，所述纵向传感器信号取决于所述传感器区域(134)中所述光束的束横截面；‑至少一个传送装置(128)，其中所述传送装置(128)响应于至少一个入射光束呈现至少两个不同的焦距，其中所述传送装置(128)适于取决于相应光束的波长调节具有第一波长的至少一个第一光束(130)和具有与所述第一波长不同的第二波长的至少一个第二光束(132)的所述束横截面，使得在所述传感器区域(134)中，所述第一光束(130)的所述束横截面不同于所述第二光束(132)的所述束横截面；以及‑至少一个评估装置(156)，其中所述评估装置(156)适于将所述纵向光学传感器(114)的所述纵向传感器信号区分为取决于由所述第一光束对所述传感器区域(134)的所述照射的第一纵向传感器信号和取决于由所述第二光束对所述传感器区域(134)的所述照射的第二纵向传感器信号，其中所述评估装置(156)被设计为通过评估所述第一纵向传感器信号和所述第二纵向传感器信号生成关于所述对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。
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