[发明专利]印刷电路板的测试点分配方法和装置在审
| 申请号： | 201711492282.1 | 申请日： | 2017-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN107942238A | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 张恂;王星;欧阳云轩;翟学涛;杨朝辉;高云峰 | 申请（专利权）人： | 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 石佩 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种印刷电路板的测试点分配方法、装置、计算机设备和存储介质，该方法包括获取正面测试点集合和反面测试点集合；选取一个正面测试点为第一信号发射点；选取一个正面测试点为第一信号接收点，选取两个反面测试点为第二信号接收点和第三信号接收点，得到一发三收的测试组合；当反面测试点分配完毕时，选取一个反面测试点为第二信号发射点；选取两个正面测试点作为第四信号接收点和第五信号接收点，得到一发二收的测试组合。上述方法，通过信号接收点的依次更新，使得印刷电路板全部测试点分配完成，并形成了大量的一个发射点三个接收点的组合，充分利用了四个探针，保证了飞针测试中探针的使用率，进而提升了飞针测试的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 印刷 电路板 测试 分配 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种印刷电路板的测试点分配方法，其特征在于，包括：获取印刷电路板正面及反面的测试点信息，得到正面测试点集合和反面测试点集合；当正面测试点集合中正面测试点的数量小于反面测试点集合中反面测试点的数量时，将正面测试点集合中的任意一个正面测试点作为第一信号发射点；依次从正面测试点集合中选择未被选择过的正面测试点作为该第一信号发射点对应的第一信号接收点，反面测试点集合中的未被选择过的任意两点分别作为该第一信号发射点对应的第二信号接收点和第三信号接收点，直至所述反面测试点集合中的反面测试点选择完毕，得到所述第一信号发射点与三个信号接收点对应的测试组合；当反面测试点集合中的反面测试点分配完毕时，将任意一个反面测试点作为第二信号发射点；依次从正面测试点集合中选择未被选择过的任意两个正面测试点作为第四信号接收点和第五信号接收点，直至所述正面测试点分配完毕，得到所述第二信号发射点与两个信号接收点对应的测试组合。
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