[发明专利]印刷电路板的测试点分配方法和装置在审

专利信息
申请号: 201711492282.1 申请日: 2017-12-30
公开(公告)号: CN107942238A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 张恂;王星;欧阳云轩;翟学涛;杨朝辉;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 石佩
地址: 518051 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 印刷 电路板 测试 分配 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种印刷电路板的测试点分配方法,其特征在于,包括:

获取印刷电路板正面及反面的测试点信息,得到正面测试点集合和反面测试点集合;

当正面测试点集合中正面测试点的数量小于反面测试点集合中反面测试点的数量时,将正面测试点集合中的任意一个正面测试点作为第一信号发射点;

依次从正面测试点集合中选择未被选择过的正面测试点作为该第一信号发射点对应的第一信号接收点,反面测试点集合中的未被选择过的任意两点分别作为该第一信号发射点对应的第二信号接收点和第三信号接收点,直至所述反面测试点集合中的反面测试点选择完毕,得到所述第一信号发射点与三个信号接收点对应的测试组合;

当反面测试点集合中的反面测试点分配完毕时,将任意一个反面测试点作为第二信号发射点;

依次从正面测试点集合中选择未被选择过的任意两个正面测试点作为第四信号接收点和第五信号接收点,直至所述正面测试点分配完毕,得到所述第二信号发射点与两个信号接收点对应的测试组合。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取印刷电路板正面及反面的测试点信息,得到正面测试点集合和反面测试点集合的步骤,包括:

获取印刷电路板正面测试点信息和反面测试点信息;

将各正面测试点按横坐标的第一顺序排列,得到正面测试点集合;

将各反面测试点按横坐标的第一顺序排列,得到反面测试点集合;

所述依次从正面测试点集合中选择未被选择过的正面测试点作为该信号发射点对应的第一信号接收点,反面测试点集合中的未被选择过的任意两点分别作为该信号发射点对应的第二信号接收点和第三信号接收点的步骤,包括:

从所述正面测试点集合中选择未被选择过的最末正面测试点作为该信号发射点的第一信号接收点,反面测试点集合中未被选择过的最前反面测试点作为该信号发射点的第二信号接收点,最末反面测试点作为该测试点的第三信号接收点;

所述依次从正面测试点集合中选择未被选择过的任意两个正面测试点作为第四信号接收点和第五信号接收点的步骤,包括:依次从正面测试点集合中选择未被选择过最前正面测试点作为第四信号接收点,最末正面测试点作为第五信号接收点。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

当反面测试点集合中的未被分配的反面测试点剩余一个时,将该反面测试点作为第六信号接收点,得到所述第二信号发射点与一个信号接收点对应的测试组合。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

当正面测试点集合中正面测试点的数量大于反面测试点集合中反面测试点的数量时,将反面测试点集合中的任意一个反面测试点作为第一信号发射点;

依次从反面测试点集合中选择未被选择过的反面测试点作为该第一信号发射点对应的第一信号接收点,正面测试点集合中的未被选择过的任意两点分别作为该第一信号发射点对应的第二信号接收点和第三信号接收点,直至所述正面测试点集合中的正面测试点选择完毕,得到所述第一信号发射点与三个信号接收点对应的测试组合;

当正面测试点集合中的正面测试点分配完毕时,将任意一个正面测试点作为第二信号发射点;

依次从反面测试点集合中选择未被选择过的任意两个反面测试点作为第四信号接收点和第五信号接收点,直至所述反面测试点分配完毕,得到所述第二信号发射点与两个信号接收点对应的测试组合。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

所述依次从反面测试点集合中选择未被选择过的反面测试点作为该第一信号发射点对应的第一信号接收点,正面测试点集合中的未被选择过的任意两点分别作为该第一信号发射点对应的第二信号接收点和第三信号接收点的步骤,包括:

从所述反面测试点集合中选择未被选择过的最末反面测试点作为该信号发射点的第一信号接收点,正面测试点集合中未被选择过的最前正面测试点作为该信号发射点的第二信号接收点,最末正面测试点作为该测试点的第三信号接收点;

所述依次从反面测试点集合中选择未被选择过的任意两个反面测试点作为第四信号接收点和第五信号接收点的步骤,包括:依次从反面测试点集合中选择未被选择过最前反面测试点作为第四信号接收点,最末反面测试点作为第五信号接收点。

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