[发明专利]印刷电路板的测试点分配方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及飞针测试技术领域，特别是涉及一种印刷电路板的测试点分配方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

多轴飞针测试机由正反两面四个探针组成，在实际测试中，在X-Y轴上安装由电机驱动的可独立快速移动的探针，待测试的印制电路板(PCB)由夹具将其夹持在设备的中间，利用步进电机驱动的测试轴在Z方向快速移动与夹持在机器上的印制电路板(PCB)的焊点进行接触并进行电气测量。

通常一块PCB上有数千甚至上万的测试点，所以测试时可能会存在1个发射点和3个接收点、1个发射点和2个接收点以及1个发射点和1个接收点的组合。

然而如果发射点与接收点的组合分配不合理，那么在测试时就会造成探针的空置，从而导致效率较低、耗费时间以及延误生产。

发明内容

基于此，有必要针对效率较低、耗费时间以及延误生产的问题，提供一种印刷电路板的测试点分配方法、装置、计算机设备和存储介质。。

一种印刷电路板的测试点分配方法，包括：

获取印刷电路板正面及反面的测试点信息，得到正面测试点集合和反面测试点集合；

当正面测试点集合中正面测试点的数量小于反面测试点集合中反面测试点的数量时，将正面测试点集合中的任意一个正面测试点作为第一信号发射点；

依次从正面测试点集合中选择未被选择过的正面测试点作为该第一信号发射点对应的第一信号接收点，反面测试点集合中的未被选择过的任意两点分别作为该第一信号发射点对应的第二信号接收点和第三信号接收点，直至所述反面测试点集合中的反面测试点选择完毕，得到所述第一信号发射点与三个信号接收点对应的测试组合；

当反面测试点集合中的反面测试点分配完毕时，将任意一个反面测试点作为第二信号发射点；

依次从正面测试点集合中选择未被选择过的任意两个正面测试点作为第四信号接收点和第五信号接收点，直至所述正面测试点分配完毕，得到所述第二信号发射点与两个信号接收点对应的测试组合。

在一个实施例中，所述方法还包括：所述获取印刷电路板正面及反面的测试点信息，得到正面测试点集合和反面测试点集合的步骤，包括：

获取印刷电路板正面测试点信息和反面测试点信息；

将各正面测试点按横坐标的第一顺序排列，得到正面测试点集合；

将各反面测试点按横坐标的第一顺序排列，得到反面测试点集合；

所述依次从正面测试点集合中选择未被选择过的正面测试点作为该信号发射点对应的第一信号接收点，反面测试点集合中的未被选择过的任意两点分别作为该信号发射点对应的第二信号接收点和第三信号接收点的步骤，包括：

从所述正面测试点集合中选择未被选择过的最末正面测试点作为该信号发射点的第一信号接收点，反面测试点集合中未被选择过的最前反面测试点作为该信号发射点的第二信号接收点，最末反面测试点作为该测试点的第三信号接收点；

所述依次从正面测试点集合中选择未被选择过的任意两个正面测试点作为第四信号接收点和第五信号接收点的步骤，包括：依次从正面测试点集合中选择未被选择过最前正面测试点作为第四信号接收点，最末正面测试点作为第五信号接收点。

在一个实施例中，当反面测试点集合中的未被分配的反面测试点剩余一个时，将该反面测试点作为第六信号接收点，得到所述第二信号发射点与一个信号接收点对应的测试组合。

在一个实施例中，所述方法还包括：

当正面测试点集合中正面测试点的数量大于反面测试点集合中反面测试点的数量时，将反面测试点集合中的任意一个反面测试点作为第一信号发射点；

依次从反面测试点集合中选择未被选择过的反面测试点作为该第一信号发射点对应的第一信号接收点，正面测试点集合中的未被选择过的任意两点分别作为该第一信号发射点对应的第二信号接收点和第三信号接收点，直至所述正面测试点集合中的正面测试点选择完毕，得到所述第一信号发射点与三个信号接收点对应的测试组合；

当正面测试点集合中的正面测试点分配完毕时，将任意一个正面测试点作为第二信号发射点；

依次从反面测试点集合中选择未被选择过的任意两个反面测试点作为第四信号接收点和第五信号接收点，直至所述反面测试点分配完毕，得到所述第二信号发射点与两个信号接收点对应的测试组合。

在一个实施例中，所述方法还包括：