[发明专利]一种测定高压电子光箔表层不同厚度铅含量的方法

摘要

本发明涉及材料测试领域，具体涉及一种测定高压电子光箔表层不同厚度铅含量的方法。本发明采用电解法抛去高压电子光箔表层不同厚度，分别用ICP‑MS测定光箔抛去不同厚度后的铅含量，计算得到光箔抛去的不同厚度之间的铅含量。与现有的二次离子质谱仪和辉光放电质谱仪测试方法相比，本发明能准确测定其表层不同厚度的铅含量，而且操作简单，测定成本低。

主权项

1.一种测定高压电子光箔表层不同厚度铅含量的方法，其特征在于，包括：1)、样品的抛光处理：将待测高压电子光箔裁剪成形状相同的n条，去污退火后分别进行电解抛光，保持抛光电流和抛光面积不变，依次增加抛光时间，得到抛去不同厚度的光箔条；其中，第一条光箔条的抛去厚度A₁为0，第n条光箔条的抛去厚度为A_n，n≥2；2)、标准溶液的配制：称取铅含量<10ppb的低铅铝箔0.1g，用王水溶解，并用超纯水稀释得500g溶液；再用所得溶液将100ppb的铅标准溶液分别稀释成铅含量为0、0.1、0.2、0.5、1ppb的标准溶液；3)、供试品溶液的配制：裁取步骤1)第n条光箔条的抛光部位D_n g，用王水溶解，并用超纯水稀释得到E_n g供试品溶液；4)、分别取步骤2)配制的标准溶液、步骤3)配制的供试品溶液进行ICP‑MS测定，采用标准曲线法进行定量并在线引入内标校正，得到供试品溶液中铅的含量；5)、根据式1算出第n条光箔条抛去的厚度A_n；A_n＝10000*T_n*I*M/(ρ*F*S*2)   式1式1中：ρ—铝的密度，为2.7g/cm³；T_n—第n条光箔条的抛光时间，单位为s；I—抛光电流，单位为A；M—铝的摩尔质量，为27g/mol；S—抛光面积，单位为cm²；F—法拉第常数，为96485C/mol；根据式2算得第n条光箔条抛去的厚度A_n与第n‑1条光箔条抛去的厚度A_n‑1之间的铅含量ω_n；ω_n＝[(A‑A_n‑1*2)*E_n‑1*C_n‑1/D_n‑1‑(A‑A_n*2)*E_n*C_n/D_n]/[(A_n‑1‑A_n)*2]   式2式2中：A—光箔原厚度，单位为μm；A_n‑1—第n‑1条光箔条抛去的厚度，单位为μm；A_n—第n条光箔条抛去的厚度，单位为μm；D_n‑1—第n‑1条光箔条抛光部位的取样质量，单位为g；E_n‑1—第n‑1条光箔条抛光部位取样制备的供试品溶液的质量，单位为g；D_n—第n条光箔条抛光部位的取样质量，单位为g；E_n—第n条光箔条抛光部位取样制备的供试品溶液的质量，单位为g；C_n‑1—第n‑1条光箔条抛光部位取样制备的供试品溶液的铅含量，单位为g/g；C_n—第n条光箔条抛光部位取样制备的供试品溶液的铅含量，单位为g/g。