[发明专利]X射线双能检测方法及系统有效
| 申请号： | 201711454075.7 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN108254394B | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 金鹏;李法虎 | 申请（专利权）人： | 合肥美亚光电技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提出一种X射线双能检测方法及系统，该方法包括以下步骤：将待检测物质通过X射线源进行照射；使用预设的X光探测器接收透过待检测物质的X射线，并调整X光探测器的高低能分界点，以输出合适的目标高低能图像；对目标高低能图像进行分析计算，得到第一函数和第二函数；分别确定第一函数和第二函数的阈值，并根据第一函数和第二函数的阈值对待检物质进行物料识别和剔除。本发明能够通过双能检测有效实现物质识别，具有检测精度高，易于实现的优点，并且，检测过程中无需进行射线滤波的能谱整形处理，降低了整机射线剂量，节省了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种X射线双能检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将待检测物质通过X射线源进行照射；使用预设的X光探测器接收透过所述待检测物质的X射线，并调整所述X光探测器的高低能分界点，以输出合适的目标高低能图像；对所述目标高低能图像进行分析计算，得到第一函数和第二函数；分别确定所述第一函数和第二函数的阈值，并根据所述第一函数和第二函数的阈值对所述待检物质进行物料识别。
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