[发明专利]X射线双能检测方法及系统

权利要求书

1.一种X射线双能检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

将待检测物质通过X射线源进行照射；

使用预设的X光探测器接收透过所述待检测物质的X射线，并调整所述X光探测器的高低能分界点，以输出合适的目标高低能图像；

对所述目标高低能图像进行分析计算，得到第一函数和第二函数；

分别确定所述第一函数和第二函数的阈值，并根据所述第一函数和第二函数的阈值对所述待检物质进行物料识别，其中，所述第二函数为高低能信号进行特征计算得到的表征材料原子量的双能R1值；

所述双能R1值的计算方式为：

其中，R1为所述双能R1值，N_l为待检测物质的低能灰度值，N_h为待检测物质的高能灰度值，N_l0为空场的低能背景值，N_h0为空场的高能背景值，a和b均为第二函数的参数。

2.根据权利要求1所述的X射线双能检测方法，其特征在于，所述第一函数为低能灰度值。

3.根据权利要求2所述的X射线双能检测方法，其特征在于，所述根据所述第一函数和第二函数的阈值对所述待检物质进行物料识别，包括：

以所述第一函数为横坐标，以所述第二函数为纵坐标，建立双函数坐标系；

在所述双函数坐标系中，分别对所述第一函数和第二函数设定阈值，形成两条直线，从而对所述待检测物质中的不同物料进行划分。

4.根据权利要求3所述的X射线双能检测方法，其特征在于，所述第一函数的阈值根据所述待检测物质中各物料的灰度值的最大值和最小值来设定，所述第二函数的阈值根据所述待检测物质中各物料的双能R1值的最大值和最小值来设定。

5.根据权利要求1所述的X射线双能检测方法，其特征在于，所述双能R1值根据双能物质判别时表征物质特征量的R值得到，所述R值的计算方式为：

6.根据权利要求1所述的X射线双能检测方法，其特征在于，所述参数a和参数b均为小于1的正数。

7.根据权利要求1-6任一项所述的X射线双能检测方法，其特征在于，所述预设的X光探测器为采用预设材料的光子计数型X光探测器。

8.根据权利要求7所述的X射线双能检测方法，其特征在于，所述使用预设的X光探测器接收透过所述待检测物质的X射线，并调整所述X光探测器的高低能分界点，以输出合适的目标高低能图像，包括：

所述预设的X光探测器接收透过所述待检测物质的X射线的射线能量，并通过内部脉冲比较功能分别对以不同能量阈值作为高低能分界点的高低能信号进行统计，以输出合适的目标高低能图像。

9.根据权利要求7所述的X射线双能检测方法，其特征在于，所述预设材料至少包括：CdZnTe、CdTe。

10.一种X射线双能检测系统，其特征在于，包括：

X射线源，用于对待检测物质进行照射；

处理模块，用于使用预设的X光探测器接收透过所述待检测物质的X射线，并调整所述X光探测器的高低能分界点，以输出合适的目标高低能图像；

分析模块，用于对所述目标高低能图像进行分析计算，得到第一函数和第二函数；

识别模块，用于分别确定所述第一函数和第二函数的阈值，并根据所述第一函数和第二函数的阈值对所述待检物质进行物料识别，其中，所述第二函数为高低能信号进行特征计算得到的表征材料原子量的双能R1值；

所述双能R1值的计算方式为：

其中，R1为所述双能R1值，N_l为待检测物质的低能灰度值，N_h为待检测物质的高能灰度值，N_l0为空场的低能背景值，N_h0为空场的高能背景值，a和b均为第二函数的参数。