[发明专利]一种激光扫描检测中的取点方法

摘要

本发明公开了一种激光扫描检测中的取点新方法，属于机加工技术领域，本发明通过测量点位附近最可靠的特征边沿做参考基准，通过设定特征边搜寻方向，保证取到合适的边沿；通过指定偏移量，取到正确的测量点位，同时可以设置取点宽度，用于做一些平滑滤波、中值滤波之类的处理，使得测量数据更稳定，解决零件本身测量部位位置度偏差造成测量取点点位存在偏差的问题，无需额外增加视觉系统，降低成本；本发明取点方法灵活，可选更稳定的边沿作为参考基准，保证取点成功率与稳定性。

主权项

1.一种激光扫描检测中的取点新方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1：在加工中心将零件的轮廓加工完成，所述加工中心配套设有用于扫描零件的含激光位移传感器的检测设备；

步骤2：在检测设备中设定四个取点参数，所述四个取点参数包括特征高度、特征边搜寻方向、取点偏移量和取点宽度；

所述特征高度不高于零件的轮廓高度；所述特征边搜寻方向为从左至右或从右至左；

步骤3：在检测设备中预设扫描路径，激光位移传感器沿着零件表面根据扫描路径进行扫描；扫描后得到零件的表面轮廓形状数据；检测设备控制激光位移传感器沿特征边搜寻方向与特征高度在零件表面进行搜寻，将激光位移传感器按找特征高度搜寻到的第一个零件轮廓上的边沿作为特征边；检测设备记录特征边所在坐标；

步骤4：检测设备以特征边的坐标为基础，根据取点偏移量的取值进行偏移：取点偏移量为正数或负数，取点偏移量若为正，则向右偏移，即坐标正向偏移；取点偏移量若为负，则向左偏移，即坐标负向偏移，偏移后，检测设备根据特征高度和偏移后的特征边的坐标得到一个测量中心点坐标；

步骤5：在扫描得到的零件表面轮廓上，以测量中心点为基点，根据取点宽度在零件的轮廓上建立用于计算的测量带，测量带的中点为测量中心点，检测设备提取测量带上的轮廓形状，离散化为数据点集；数据点集中的每一个点均包括一个坐标值和一个高度值；

步骤6：对步骤5中获取的数据点集中的所有点的z轴向上的坐标进行滤波处理，得到零件表面对应测量中心点坐标的高度值。

2.如权利要求1所述的一种激光扫描检测中的取点新方法，其特征在于:在执行步骤6时，采用的滤波处理为平滑滤波或中值滤波。

3.如权利要求1所述的一种激光扫描检测中的取点新方法，其特征在于:所述偏移量的取值取决于测量台阶的宽度，设定与特征边相邻的台阶宽度为W，则偏移量通常取为W/2；所述取点宽度的取值为W/4。

4.如权利要求1所述的一种激光扫描检测中的取点新方法，其特征在于:执行步骤5时，坐标值为x轴向和y轴向上的坐标，高度值为z轴向上的坐标。