[发明专利]大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统在审
| 申请号： | 201711366646.1 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN108132400A | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;雷志锋;何玉娟;彭超;师谦;黄云;恩云飞 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 刘艳丽 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统，通过获取在试验环境下大气中子诱发的电子器件的原始失效率；分别获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量；根据所述试验环境和目标环境的大气中子通量获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量比例因子；根据所述原始失效率和大气中子通量比例因子可以获取到在目标环境下大气中子诱发的电子器件的目标失效率。获取过程简单高效，简化了大气中子条件下电子器件的辐射敏感特性分析过程，从而实现对大气中子条件下电子器件单粒子效应敏感性的定量评价，解决我国目前大气中子条件下电子器件单粒子效应评价方法缺失的难题。 | ||
| 搜索关键词： | 电子器件 失效率 目标环境 试验环境 中子通量 诱发 单粒子效应 比例因子 定量评价 辐射敏感 特性分析 辐射 | ||
【主权项】：
一种大气中子诱发的电子器件失效率预计方法，其特征在于，包括以下步骤：获取在试验环境下大气中子诱发的电子器件的原始失效率；分别获取所述试验环境下的原始大气中子通量与目标环境下的目标大气中子通量；根据所述原始大气中子通量和目标大气中子通量获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量比例因子；根据所述原始失效率和大气中子通量比例因子获取在目标环境下大气中子诱发的电子器件的目标失效率。
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